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AFM-IR: Tecnología y aplicaciones en espectroscopia infrarroja a nanoescala e imágenes químicas

15 de diciembre de 2016
Autores

Alexandre Dazzi y Craig B. Prater

Puntos clave

  • AFM-IR rompe el límite de difracción FTIR en 100 veces permitiendo espectroscopia IR a nanoescala
  • Una técnica de rápida aparición, AFM-IR muestra una amplia adopción en una amplia gama de materiales y aplicaciones
  • AFM-IR proporciona correlación directa con las técnicas FTIR que permiten el FTIR a nanoescala, y proporciona una resolución espacial de 10 nm para imágenes químicas en una amplia gama de materiales

Abstracto

La espectroscopia infrarroja basada en microscopía atómica (AFM-IR) es una técnica de rápida aparición que proporciona análisis químicos y mapeo compositivo con resolución espacial muy por debajo de los límites de difracción óptica convencionales. AFM-IR funciona utilizando la punta de una sonda AFM para detectar localmente la expansión térmica en una muestra resultante de la absorción de radiación infrarroja. Por lo tanto, AFM-IR puede proporcionar la resolución espacial de AFM en combinación con el análisis químico y las capacidades de imagen compositiva de la espectroscopia infrarroja.

Este artículo revisa brevemente el desarrollo y la tecnología subyacente de AFM-IR, incluyendo avances recientes, y luego examina una amplia gama de aplicaciones e investigaciones utilizando AFM-IR, incluyendo las de polímeros, ciencias de la vida, fotónicas, células solares, semiconductores, productos farmacéuticos y patrimonio cultural.