software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

LEPTOS G

LEPTOS G realiza una evaluación de los datos de dispersión de ángulo pequeño de incidencia rasante, medidos desde las muestras que contienen partículas de nanoescala incrustadas dentro de la zona de la cara interior o situadas en la superficie de la muestra. Estos pueden ser, por ejemplo, islas y puntos cuánticos semiconductores, enterrados o de superficie, materiales porosos, polvo condensado, incrustados en nanopartículas de polímeros, etc. La licencia para el módulo G incluye también módulo R de reflectividad de rayos X. LEPTOS G es capaz de:

  • Suministrar la siguiente información en nanopartículas: forma, dimensión, densidad de la superficie o del volumen, período de correlación y longitud
  • Ajustar automáticamente las simulaciones modelo de muestra a los datos integrados medidos 2D o 1D utilizando un algoritmo de optimización robusto
  • Tiene varias funciones de coste para el ajuste de datos
  • Incluye varios modelos físicos para el tipo de correlación entre las partículas (Zhu, esfera dura) y distribución de parámetros (uniforme, Lorentz, Gauss)
  • Acceso a la base de datos integral ampliable de materiales compartida con otros módulos LEPTOS que contienen materiales amorfos y cristalinos
  • Conteo y ajuste del fondo y el factor de escala entre los datos simulados y los datos experimentales
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