software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

LEPTOS H

LEPTOS H representa el análisis de datos de difracción de rayos X y difracción de rayos X de incidencia rasante de alta resolución.

 

Este módulo está totalmente integrado en la suite LEPTOS, que incorpora el análisis simultáneo de datos HRXRD, GISAXS y XRR. Como parte de la suite LEPTOS, el módulo H hereda toda la funcionalidad común para todo el paquete.

LEPTOS H Software, XRD
LEPTOS H contains an Area Mapping module that makes it possible to treat HR-XRD data taken point-by-point over a large sample area and to display mappings of sample parameters.

 

 

Teoría

  • Formalismo de matriz recursiva rápida 2x2 y precisa 4x4 para superar las limitaciones del enfoque Takagi-Taupin
  • Método de operador para el cálculo universal de parámetros de dispersión de rayos X de materiales cristalinos y amorfos, tales como: factores de dispersión atómica, polarizabilidades de rayos X, etc.
  • Método patentado de EigenWaves (MEW) para la aceleración esencial de los ajustes para las superredes y la repetición de multicapas

Editor de muestras

  • Editor modelo de muestras potente y flexible que incluye las herramientas de superredes, enlace de parámetros físicos de capa, perfiles de capa definidos por el usuario
  • Base de datos de materiales ampliable por el usuario
  • Motor generador celular para ajuste automático de las propiedades cristalográficas de la muestra: tensión de enrejado y desajustes, grado de relajación, concentraciones elementales y densidad de masa
  • Herramienta virtual difractómetro para contabilizar la función de resolución instrumental y los efectos de la huella

Evaluación de datos

  • Simulación, estimación y ajuste de datos en espacios directos y recíprocos
  • Evaluación simultánea de varias reflexiones de Bragg medidas a partir de una muestra
  • Transformación Fast Fourier para una estimación rápida del grosor de capas y la herramienta de estimación para la rápida evaluación de los parámetros de muestra desde posiciones pico, directamente desde los datos de medición
  • Ajuste preciso de numerosos parámetros de la muestra utilizando la teoría dinámica avanzada. Rutinas de ajuste disponibles: Algoritmo genético, recocido simulado, Simplex o Levenberg-Marquardt
  • Consideración de las orientaciones no polares de la unidad de celda cristalográfica y varias reflexiones {hkl} en una sola muestra
  • Exploración de la zona; evaluación automatizada de datos vía interfaz de script

Resultados

  • Los resultados se guardan en los archivos de proyecto basados en XML
  • Varias opciones de presentación de informes y exportación personalizable