software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

TOPAS 4.2 – ¿Qué hay de nuevo?

Interfaz gráfica de usuario

  • Interfaz gráfica de usuario completamente nueva con la apariencia de Windows XP
  • La ventana del visor de la estructura se ha combinado con el editor de cuerpo rígido

Análisis de la estructura

  • El método Charge Flipping
  • Mapas 3D Fourier
  • Soporte de datos Tiempo de recuento variable
  • El método de Cloud – una técnica promedio con una posición para la presentación visual de los movimientos atómicos
  • Penalizaciones de ángulo de torsión para complementar la distancia y restricciones de ángulo

Análisis de fase cuantitativa

  • Método PONKCS

Nuevos parámetros fundamentales

  • Compatibilidad de detectores sensibles a la posición (LYNXEYE, VÅNTEC-1)
  • Soporte de muestras capilares
  • Corrección del flujo de trabajo del haz (forma de pico e intensidad)

General

  • Soporte de factores de dispersión de átomos / iones con Z>92
  • Compatibilidad de factores de dispersión definidos por el usuario
  • Precisión doble para lograr una mayor estabilidad para perfeccionamientos con muchos parámetros o altas correlaciones
  • Método bootstrap de determinación de errores
  • Errores Bootstrap para coordinadas fraccionales que son una función de un cuerpo rígido

Más información

Descargue nuestro Total Pattern Analysis Solutions: Charge Flipping – 3D Fourier Maps – VCT – PONKCS Folleto en PDF

Descargue nuestro TOPAS Quantitative phase analysis of phases with Partial Or No Known Crystal Structure: PONKCS Folleto en PDF

Descargue nuestro Variable Counting Time: The Golden Standard for X-ray Data Collection Folleto en PDF