IDEAL: Invariom Derived Electron Analysis
Overview
近年、大型でシャッターレスモードの検出器の開発、導入により、高解像度のデータ品質はここ数年で劇的に向上しました。 例えば、0.5Å程度(Mo Kα線で2θ=～90°)の高角度データまで一つの検出器位置で測定でき、短い露光時間で極めて迅速に測定することができます。
従来、得られた構造は独立原子モデル（IAM, Independent Atom Model）を使用してリファインされていますが、0.83 Aを超える良好なデータが得られたときは、適切にモデル化できない電子密度が残差としてわずかに残っていました。そのような場合、高角度の反射データに追加的な構造情報が含まれているにもかかわらず、多くは、R値を低く維持するために高角度のデータを除去することを選択し、全体的な構造情報の品質を犠牲にしてきました。
この度弊社から発表された、リファインのステップにおけるIDEALという機能は、モデル化合物のab initio計算のデータベースから導出された結合依存型で歪んだ電子密度パラメータのデータベースを使用し、SHELXLの拡張機能としてBEDE（Bond Electron Density）とLONE（Lone Pair Electron density）というインストラクションをSHELXLのために生成します。 そして、そのSHELXLはIAMの散乱係数を計算に使用し、さらに追加的に結合性電子およびロンペアからの散乱の寄与を考慮に入れることになります。
このようにしてIDEALは、精度の向上したモデル構造を提供し、そこから得られるより細かい情報を提供します。 IDEALは使いやすく、APEX3およびSHELXleとシームレスに統合されています。
実際にIDEALがどのようなものか、このwebinarで見てみましょう。
This webinar is held in Japanese.
Dr. Kenji Yoza
Bruker Japan K.K./SCD Application Scientist
