Hysitron PI 85E
PicoIndenter SEM Hysitron PI 85E
Le PicoIndenter SEM Hysitron PI 85E étend la portée de vos tests mécaniques in-situ, en comblant le fossé entre la caractérisation à l'échelle nanométrique et à l'échelle microscopique. Ce système d'essai nanomécanique à détection de profondeur est spécialement conçu pour tirer parti des capacités d'imagerie avancées des microscopes électroniques à balayage (MEB, FIB/SEM, PFIB) tout en effectuant des essais nanomécaniques quantitatifs. Sa gamme de forces étendue permet aux chercheurs de tester avec précision des structures de grandes dimensions et/ou dures qui nécessitent des charges plus importantes pour induire une défaillance et/ou une fracture. L'instrument PI 85E permet de réaliser des essais d'indentation, de compression, de tension et de fatigue sur l'ensemble des matériaux (des métaux et alliages aux céramiques, composites et matériaux semi-conducteurs). L'architecture compacte et discrète du PI 85E le rend idéal pour les MEB à petite chambre, les microscopes optiques et Raman, les lignes de faisceau, etc.
Nanoindentation : Essais Mécaniques in-situ de Haute Précision
Caractérisez la dureté, le fluage, la relaxation des contraintes, le module d'élasticité et la résistance à la rupture des caractéristiques proches de la surface, des interfaces, des microstructures localisées et des films minces.
Exploration du Comportement avec une Gamme étendue de Tests
L'Hysitron PI 85E intègre une variété de types de tests permettant de caractériser les propriétés mécaniques fondamentales, le comportement contrainte-déformation, la rigidité, la résistance à la rupture et les mécanismes de déformation sur une large gamme d'échantillons. En plus du transducteur de test standard de Bruker, le PI 85E offre des capacités de charge plus élevées (250 mN) et de déplacement plus important (150 µm). Le transducteur et la flexion à large bande passante avec une électronique de commande avancée optimisent pleinement les essais d'échantillons à grande échelle et offrent des performances et une sensibilité exceptionnelles.
Caractérisation de Nanostructures à Une, Deux et Trois Dimensions
Le système Hysitron PI 85E utilise des dispositifs Push-to-Pull (PTP) brevetés pour caractériser: les structures unidimensionnelles telles que les nanofils et les nanotubes; ainsi que les structures bidimensionnelles telles que les films minces indépendants. Ces structures peuvent également être caractérisées électriquement à l'aide des dispositifs Push-to-Pull électriques optionnels de l'instrument. La plage de déplacement accrue du PI 85E est également idéale pour tester la déformation de treillis tridimensionnels à une déformation plus importante.
Expand PI 85E's Capabilities
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