Hysitron PI 85E
Hysitron PI 85E SEM PicoIndenter
O Hysitron PI 85E SEM PicoIndenter amplia o alcance de seus testes mecânicos in-situ, preenchendo a lacuna entre a caracterização em nanoescala e microescala. Este sistema de teste nanomecânico com detecção de profundidade foi projetado especificamente para aproveitar os recursos avançados de imagem dos microscópios eletrônicos de varredura (SEM, FIB/SEM, PFIB) ao mesmo tempo em que realiza testes nanomecânicos quantitativos. Sua faixa de força estendida permite que os pesquisadores testem com precisão estruturas dimensionalmente grandes e/ou duras que exigem cargas maiores para induzir falhas e/ou fraturas. O instrumento PI 85E oferece testes de indentação, compressão, tensão e fadiga em todo o espectro de materiais (de metais e ligas a cerâmicas, compósitos e materiais semicondutores). A arquitetura compacta e discreta do PI 85E o torna ideal para SEMs de pequena câmara, microscópios Raman e ópticos, linhas de luz e muito mais.
Nanoindentação: Teste Mecânico In-Situ de Alta Precisão
Caracterize dureza, fluência, relaxamento de tensão, módulo de elasticidade e resistência à fratura de características próximas à superfície, interfaces, microestruturas localizadas e filmes finos.
Exploração do comportamento com alcance estendido
Hysitron PI 85E incorpora uma variedade de modos de teste para caracterizar propriedades mecânicas fundamentais, comportamento de tensão-deformação, rigidez, tenacidade à fratura e mecanismos de deformação em uma ampla gama de amostras. Além do transdutor de teste padrão da indústria da Bruker, o PI 85E oferece capacidades de carga mais alta (250 mN) e deslocamento maior (150 µm). O transdutor de alta largura de banda e a flexão com eletrônica de controle avançada otimizam totalmente os testes de amostra em grande escala e oferecem desempenho e sensibilidade excepcionais.
Caracterização de Nanoestruturas Unidimensionais, Bidimensionais e Tridimensionais
O sistema Hysitron PI 85E usa dispositivos patenteados Push-to-Pull (PTP) para caracterizar estruturas unidimensionais, como nanofios e nanotubos, e estruturas bidimensionais, como filmes finos independentes. Essas estruturas também podem ser caracterizadas eletricamente com os dispositivos elétricos Push-to-Pull opcionais do instrumento. A maior faixa de deslocamento do PI 85E também é ideal para testar a deformação de treliças tridimensionais para maiores deformações.
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