eFlash FS

Der schnelle und empfindliche EBSD-Detektor

Der neue EBSD-Detektor eFlash FS wurde für maximale Empfindlichkeit entwickelt, um Hochgeschwindigkeits-EBSD-Messungen ohne Beeinträchtigung der Datenqualität zu ermöglichen – selbst bei anspruchsvollen Anwendungen wie verformten oder leichten Materialien. Zur Steigerung der Pattern-Qualität wurde das Kühlsystem des eFlash FS verbessert, um die Arbeitstemperatur und damit den Dunkelstrom der CCD-Kamera so weit wie möglich zu senken.

Im Vergleich zum Vorgängermodell eFlash 1000 hat der neue eFlash FS Detektor eine um den Faktor 3 verbesserte Empfindlichkeit und einen um den Faktor 4 geringeren Dunkelstrom. Damit ist er die beste Wahl für alle „Hough-basierten“ EBSD-Anwendungen. Die enorme Verbesserung der Kameraempfindlichkeit in Kombination mit einem hocheffizienten Hochgeschwindigkeits-Phosphorschirm machen den eFlash FS Detektor zur idealen Lösung  für dynamische Experimente wie in-situ Aufheizung und in-situ Zug- und Kompressionstests.

Auch die 3D EBSD profitiert von den Geschwindigkeits- und Empfindlichkeitsfähigkeiten des neuen eFlash FS Detektors.

Ein 400 x 300 Pixel großes Map kann in 2 min 10 s erfasst werden. Das bedeutet, dass die Datenerfassung eines 3D-EBSD-Datenwürfels mit 70 Schnitten (8,4 Mio. Voxel) nur 2,5 h dauert.

Seine hervorragende Empfindlichkeit macht den neuen eFlash FS Detektor zur perfekten Lösung für Niedrig-kV-EBSD-Anwendungen und Transmissions-Kikuchi-Beugung (TKD) im REM, auch bekannt als Transmissions-EBSD (t-EBSD). Mit dem eFlash FS Detektor, der mit dem einzigartigen OPTIMUS™ TKD-Detektorkopf nachgerüstet werden kann, lassen sich Orientierungs-Maps mit Geschwindigkeiten von bis zu 630 Bildern pro Sekunde (fps) und einer effektiven räumlichen Auflösung von mindestens 2 nm erfassen.

Mit typischen Messzeiten von nur wenigen Minuten pro Map bringt die On-Axis TKD nicht nur eine bemerkenswerte Effizienzsteigerung ohne Beeinträchtigung der Datenqualität, sondern minimiert auch Artefakte, die durch Strahlinstabilitäten induziert werden.

Der eFlash FS ist mit dem ARGUS™ Bildgebungssystem mit vorwärtsgestreuten (FSE) und rückgestreuten (BSE) Elektronen erhältlich. Dies erhöht die Vielseitigkeit des Detektors und liefert wertvolle Zusatzinformationen für eine aussagekräftige und effiziente Mikrostrukturcharakterisierung.

 

eFlash FS Detektor für hohe Empfindlichkeit und Durchsatz
eFlash FS Detektor mit OPTIMUS-Detektorkopf mit horizontalem Phosphorschirm für TKD mit bester Probe-Detektor-Geometrie.