e플래시 FS

빠르고 민감한 EBSD 검출기

새로운 EBSD 검출기 eFlash FS는 변형또는 경량 재료와 같은 까다로운 응용 분야에서도 데이터 품질을 손상시키지 않으면서 고속 EBSD 측정을 허용하도록 최대 감도를 제공하도록 설계되었습니다. 패턴 품질을 더욱 향상시키기 위해 eFlash FS의 냉각 시스템이 작동 온도를 낮추고 따라서 CCD 카메라의 어두운 전류를 가능한 한 줄이도록 업그레이드되었습니다.

3배의 민감도 향상과 4배의 어두운 전류 하락(이전 eFlash 1000과 비교) 덕분에 새로운 eFlash FS 검출기는 모든 "허프 기반" EBSD 애플리케이션에 가장 적합한 선택입니다. 고속 및 고효율 인광스크린과 결합된 거대한 카메라 감도 개선은 새로운 eFlash FS 검출기를 시내 가열 및 인장/압축 테스트와 같은 동적 실험에 이상적인 솔루션입니다.

3D EBSD는 새로운 eFlash FS 검출기의 속도와 감도 기능으로부터 큰 이점을 얻을 수 있는 또 다른 중요한 응용 프로그램입니다.

이제 400 x 300 픽셀 맵 / 슬라이스의 획득이 ~ 2 분 10 초만큼 빨리 준비됩니다. 즉, 70슬라이스 3D EBSD 데이터 큐브(8.4M voxels)의 데이터 수집 부분에는 ~2.5시간만 필요합니다.

뛰어난 감도로 새로운 eFlash FS 검출기는 전송 EBSD(t-EBSD)로 알려진 SEM의 낮은 kV EBSD 애플리케이션과 전송 키쿠치 회절(TKD)을 위한 완벽한 솔루션입니다. 독특한 OPTIMUS™ TKD 검출기 헤드를 개조한 새로운 검출기를 사용하여 전송 모드에서 오리엔테이션 매핑은 이제 초당 최대 630프레임(fps)의 속도로 가능하며, 최소 2nm의 효과적인 공간 해상도를 달성합니다.

일반적인 측정 시간이 맵당 불과 몇 분 밖에 되지 않는 경우, 온축 TKD는 데이터 품질에 영향을 미치지 않으면서 효율성을 현저히 증가시킬 뿐만 아니라 빔 불안정으로 인한 아티팩트를 최소화합니다.

eFlash FS는 ARGUS™ 포산제/백산전자 이미징 시스템에서 사용할 수 있습니다. 이를 통해 검출기의 다재다능함을 높이고 의미 있고 효율적인 미세 구조 특성화를 위한 귀중한 추가 정보를 제공합니다.

높은 감도 및 처리량을 위한 eFlash FS.
최고의 샘플 검출기 형상을 갖춘 TKD의 경우 수평 OPTIMUS 검출기 헤드가 있는 eFlash FS입니다.