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Datenpräsentationsoptionen – Nachbearbeitung

Flexible Darstellung von Messergebnissen

Der Analytiker steht oft vor der Herausforderung, Daten so darzustellen, dass interessierenden Materialeigenschaften leicht zu beurteilen sind. Die ESPRIT Software-Suite für EBSD eine große Anzahl von Werkzeugen und Funktionen zur Datendarstellung.

 

Teilmengenauswahl

ESPRIT bietet die Möglichkeit, Datenteilmengen mit unterschiedlichen Kriterien zu erstellen, sodass er sich auf bestimmte Funktionen konzentrieren kann. Teilmengenauswahlen können auf viele der auf dieser Seite beschriebenen Daten und Präsentationsoptionen angewendet werden: Maps, Histogramme, Polfiguren und Phasenlisten. Teilmengen können mit mehreren Operationen verarbeitet werden, darunter Vereinigung, Subtraktion, Schnittmenge und Erweiterung. Es können auch Masken angewendet werden.

Patternqualitäts-Map eines Edelstahls

Patternqualitäts-Map

Das Patternqualitäts-Map ist ein wichtiges Instrument zur Beurteilung der Qualität einer Messung. Die Patternqualität wird von Akquisitionsparametern und Probeneigenschaften wie z.B. Phasen, Grenzen, Gitterdehnung, aber auch von der Probenpräparation beeinflusst. Die Patternqualität, also die Schärfe des Kikuchi-Patterns Musters, wird an jedem Punkt des Maps helligkeitskodiert, um ein Graustufenbild zu erzeugen. Diese Bilder sind nützlich als Basis für die Überlagerung mit anderen Map-Typen, da sie mikrostrukturelle Merkmale wie Korngrenzen zeigen.

Patternqualitäts-Map eines Edelstahls überlagert mit Phasen-Map: Ferrit (rot), Austenit (blau), Titannitrid (grün), Titansulfid (gelb)

Phasen-Map

Alle identifizierten Phasen werden in einem farbkodierten Phasenverteilungs-Map dargestellt.

 

Hochauflösende Polfigur

Polfiguren

Polfiguren sind eine der gebräuchlichsten Darstellungen für Orientierungsdaten. Sie zeigen die Verteilungen der ausgewählten Pole {hkl} unter Berücksichtigung aller Orientierungsmessungen. Polfiguren liefern wichtige Informationen über die Stärke einer Textur und auch darüber, welche Texturkomponenten dominant sind. ESPRIT für EBSD erzeugt Polfiguren und die entsprechende Beugungskugel (in 3D betrachtet) in hoher Auflösung und mit beispielloser Geschwindigkeit.

 

Inverse Polfiguren

Inverse Polfiguren (IPF)

Während Polfiguren Kristallorientierungen in Bezug auf das Koordinatensystem des Tisches anzeigen, beschreiben die IPFs eine Achse des Probentisches als kristallographischen Vektor. Da es viele symmetrie-äquivalente Vektoren gibt, werden die IPFs auf die symmetriespezifischen Unterräume reduziert (wie in der Abbildung rechts dargestellt).

ODF-Raumvisualisierung für eine auf einem Silizium-Wafer abgeschiedene Goldschicht

Orientierungsverteilungsfunktion


2D-Schnitte und 3D-Visualisierung des ODF-Raums unter Verwendung moderner Open-GL-Technologie für eine schnelle und interaktive Darstellung.

 

Patternqualitäts-Map eines Edelstahls überlagert mit einem IPFX-Map

IPF-Map

Eine IPF-Karte kombiniert die lokal erkannte Orientierung mit der kristallographischen Beschreibung einer einzigen Referenzrichtung. Die Farbkodierung wird auf die reduzierte Größe der IPF skaliert.

 

Grain Average Misorientation Maps (GAM), die die "Akkumulation der Verformung" innerhalb der ARMCO-Stahlkörner in verschiedenen Stadien des In-situ-Zugversuchs zeigen; die Farben zeigen Orientierungsänderungen von 0 bis 7 Grad.

Euler-Map
Eine Euler-Karte zeigt die erkannte Orientierung an jedem Punkt anhand der Euler-Winkel, die in RGB kodiert sind.

Kornanalyse
Die Kornanalyse unterstützt die Erkennung von Körnern mithilfe von Fehlorientierungs- und Größenkriterien, ∑3 Grenzen können bei Bedarf ignoriert werden. Körner können in Bezug auf Form, Größe und Hauptachsenneigung (bei länglichen Körnern) analysiert werden. Ermittelte Korn-Maps können mit den Körnern in zufälligen Farben erstellt werden.

Ebenfalls enthalten sind Funktionen zur Fehlorientierungs-Verteilungsanalyse. Es kann sowohl ein Fehlorientierungsprofil entlang einer Linie als auch ein Fehlorientierungs-Verteilungshistogramm berechnet werden. Fehlorientierungs-Maps können als Grain Average Misorientation Map(GAM), Kernel Average Misorientation Map (KAM) und Reference Misorientation Map dargestellt werden.

Texturkomponenten
ESPRIT für EBSD unterstützt die Erstellung von Texturkomponenten-Maps und ermöglicht die Definition von Texturkomponenten und deren Verbreitung aus einer "idealen" Ausrichtung mit einer Regenbogenpalette. Diese Funktion kann auch für die Erstellung von Teilmengen verwendet werden.