데이터 프레젠테이션 옵션 - 후처리

유연한 측정 결과 시각화

분석가는 종종 관심있는 재료 특성을 쉽게 평가 할 수있는 방식으로 데이터를 제시하는 방법의 도전에 직면. EBSD용 ESPRIT 소프트웨어 제품군은 이러한 요구를 충족하기 위해 많은 수의 데이터 표현 도구를 제공합니다.

하위 집합 선택

ESPRIT는 분석가에게 서로 다른 기준을 사용하여 데이터 하위 집합을 만들 수 있는 옵션을 제공하여 특정 기능에 집중할 수 있도록 합니다. 하위 집합 선택은 맵, 히스토그램, 극 그림 및 위상 목록과 같은 많은 데이터와 이 페이지에 설명된 프레젠테이션 옵션에 적용할 수 있습니다. 하위 집합은 여러 작업을 사용하여 처리할 수 있으며 그 중 에는 조합, 빼기, 교차 및 확장이 가능합니다. 마스크도 사용할 수 있습니다.

스테인레스 스틸 패턴 품질지도

패턴 품질 지도

이것은 측정의 품질을 판단하기위한 중요한 도구입니다. 패턴 품질은 획득 파라미터, 샘플 속성에 의해 영향을 받습니다. 예를 들어 위상, 경계, 격자 변형 및 샘플 준비에 의해. 맵의 각 지점에서 패턴 품질, 키쿠치 패턴의 선명도가 회색 스케일 이미지를 생성하도록 코딩된 밝기입니다. 이러한 이미지는 곡물 경계와 같은 미세 구조 기능을 표시하므로 다른 유형의 맵과 오버레이하는 기본으로 유용합니다.

스테인레스 스틸, 위상지도와 겹쳐진 패턴 품질: 페릿(레드), 오스테니테(블루), 티타늄 질산화물(녹색), 황화물 티타늄(노란색)

위상지도

확인된 모든 단계는 색상으로 구분된 위상 분포 맵에 표시됩니다.

고해상도 폴 피규어

극 수치

Pole 수치는 방향 데이터에 대한 가장 일반적인 표현 도구 중 하나입니다. 모든 방향 측정을 고려하여 선택한 기둥 {hkl}의 분포를 보여 줍니다. 폴 피규어는 질감의 강도와 텍스처 구성 요소가 지배적인 요소에 대한 중요한 정보를 제공합니다. EBSD용 ESPRIT는 극 수치와 해당 회절 구(3D로 조회)를 고해상도및 전례 없는 속도로 생성합니다.

역극 수치

역극 수치(IPF)

극 피규어는 스테이지 좌표 시스템을 참조하여 결정 방향을 표시하지만 IPF는 선택한 스테이지 시스템 축을 결정벡터로 설명합니다. 대칭에 상응하는 벡터가 많기 때문에 IPF는 대칭별 하위 공백으로 줄어듭니다(오른쪽 그림과 같이).

실리콘 웨이퍼에 증착된 금막용 ODF 공간 시각화

방향 분포 기능


빠르고 인터랙티브한 디스플레이를 위해 현대적인 오픈-GL 기술을 사용하여 ODF 공간의 2D 절단 및 3D 시각화를 사용할 수 있습니다.

IPFX 맵과 오버레이된 스테인리스 스틸, 패턴 품질 맵

IPF 지도

IPF 맵은 로컬로 감지된 방향과 단일 참조 방향의 결정 설명을 결합합니다. 색상 코딩은 IPF의 크기가 줄어든 것으로 조정됩니다.

현장에서 인장 테스트 실험의 다른 단계에서 ARMCO 강철 곡물 내부의 "변형 축적"을 보여주는 곡물 평균 오리엔테이션 지도; 색상은 방향 변경 내용을 0도에서 7도로 표시합니다.

오일러 지도
오일러 맵은 RGB에서 인코딩된 오일러 각도를 기준으로 각 지점에서 감지된 방향을 표시합니다.

곡물 분석
방향 감각 상실 및 크기 기준을 사용하여 곡물 검출을 지원하며, 원하는 경우 ∑3 경계를 무시할 수 있습니다. 곡물은 모양, 크기 및 주요 축 경사(길쭉한 곡물의 경우)에 대해 분석할 수 있습니다. 감지된 곡물 맵은 임의의 색상으로 곡물로 생성할 수 있습니다.

또한 오리엔테이션 배포 분석 기능이 포함되어 있습니다. 선을 따라 잘못된 방향 전환 프로파일과 오리엔테이션 배포 히스토그램을 계산할 수 있습니다. 오리엔테이션 맵은 곡물 평균 오리엔테이션 맵, 커널 평균 오리엔테이션 맵 및 참조 방향 감각 상실 맵을 형태로 표시할 수 있습니다.

텍스처 구성 요소
EBSD용 ESPRIT는 텍스처 구성 요소 맵의 생성을 지원하므로 무지개 팔레트를 사용하여 텍스처 구성 요소의 정의와 "이상적인" 방향에서 확산됩니다. 이 기능은 하위 집합을 만드는 데도 사용할 수 있습니다.