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Cobra, sc-xrd accessories, low temperature device

Geräte für niedrige Temperaturen

Die Vorteile der Erfassung von Einkristall-diffraktometriedaten bei niedrigen Temperaturen sind von der Wissenschaft bereits seit Langem anerkannt. Mit der Verfügbarkeit von effizienten und zuverlässigen Geräten und einschlägigen Publikationen ist der Einsatz von niedrigen Temperaturen in den letzten Jahren rasant gestiegen. Diese Technik bietet zahlreiche Vorteile:

Typischerweise reicht ein Temperaturbereich von 300 K bis 80 K aus, um eine große Anzahl von Experimenten bei niedrigen Temperaturen abzudecken

Temperaturen von weniger als 80 K können mit Helium-basierten Tieftemperatursystemen wie z. B.

     

  • n-Helix
  •  

erreicht werden.

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