ブルカーの最新マルチモードXRD検出器ポートフォリオとその特長
内容
実験室系XRDのデータ品質は、検出器技術の進歩に伴い、すさまじい速さで向上しています。本ウェビナーでは、最新のブルカーマルチモードXRD検出器のラインナップをご紹介します。また各検出機の特長と最適なアプリケーションの組み合わせについて、実際の測定事例を含めてわかりやすくご紹介します。
2021年4月22日（木）
13：00（日本時間）
本ウェビナーはオンデマンドで視聴いただけます。（登録制）
得られる情報
- 最新のXRD分析アプローチと得られるサンプル情報に応じたXRD検出器の組み合わせ。
キートピックス
- マルチモードXRD検出器
- 高エネルギー分解能粉末X線回折
- 多目的材料解析XRD (XRR、すれすれ入射法、HRXRD、極点図、残留応力解析、SAXS/WAXS、微小部XRD、雰囲気制御XRD)
演者
森岡 仁
X線事業部 アプリケーション部
XRDアプリケーション 兼 アプリケーション統括マネージャー
・2004年3月 東京工業大学 修士課程 修了
・2004年4月 エルピーダメモリ (現 マイクロンメモリジャパン) 入社
・CVD薄膜成長プロセス開発に従事
・2006年10月 ブルカー・エイエックスエス 入社
・XRDアプリケーション業務に従事
・2010年3月 東京工業大学 博士課程 修了: 博士 (工学)
・2018年1月 旧ブルカーグループ会社が統合されブルカージャパンへ
・X線事業部 アプリケーション部 統括マネージャー 現在に至る