Mapeo rápido de cristalitos

Espectro de un cristal de silicio (fijado con una arcilla que contiene Ca). Los picos de difracción, marcados como regiones grises F1 ... F4 son la huella digital de una orientación de cristal específica. Si este patrón cambia en otra ubicación de la muestra, el Si no es un solo cristal.

Las estructuras cristalinas causan regularmente picos de difracción cuando se analizan con rayos X. La difractometría de rayos X (XRD) es el método ideal para caracterizar cristales e identificar su orientación. La configuración del espectrómetro micro-XRF M4 TORNADO (haz de rayos X policromático centrado, gran ángulo sólido de detección) hace que la detección de picos de difracción (picos Bragg) sea muy probable, pero dificulta su análisis cuantitativo. Análisis puramente cualitativos; por ejemplo, visualizando las posiciones, tamaños y bordes entre cristalitos ya dice mucho acerca de las muestras.

No hay una manera más rápida de mostrar cambios cualitativos en los patrones de difracción en áreas de muestra grandes con esta resolución espacial que con la tecnología M4/M6.

Distribución de cristalito en una junta de soldadura grande. 6,6 x 5 cm² medidos en menos de 8h con una resolución espacial de 20 µm. El tamaño y la dirección de los cristalitos en la junta de soldadura se correlacionan con el gradiente de enfriamiento. Además, los diferentes aceros muestran diferentes propiedades del cristalito.

Hermanamiento en un cristal NdGdO3. La medición simultánea de la estequiometría (in situ en la parte superior derecha) y la distribución del dominio de cristal es un paso vital para el control de calidad de los cristales fabricados.