晶体取向快速面扫描分析
Si晶体的光谱。衍射峰值，标记为灰色区域 F1 ...F4）是代表不同晶体取向。如果这些衍射峰位置在该样品样本的另一个位置发生变化，则表明样品并非为单晶Si。
使用 X 射线分析时，晶体结构经常导致衍射峰值。X射线衍射仪 （XRD） 是描述晶体特征和识别其晶体取向的常规方法. M4 TORNADO 微区XRF 光谱仪（聚焦多色 X 射线光束、大固体检测角度）的设置可对衍射峰（布拉格峰）进行检测，但难以进行定量分析，可进行纯粹的定性分析，例如，看到位置、大小、取向等相关信息。
目前没有比使用 M4/M6微区XRF能够更快速地在同等分辨率的情况下对如此大尺寸样品进行晶体取向快速面扫描分析
大型焊接接头中的晶体域分布。6.6 x 5 cm2，测量时间小于 8 小时，空间分辨率为 20 μm。焊接接头中晶体域的大小和方向与冷却梯度相关。此外，不同的钢表现出不同的晶体域属性。
NdGdO孪晶。同步测量晶体化学组成（右上）和晶晶畴分布是晶体生产制造中质量控制的重要步骤。