微区X射线荧光光谱仪(Micro-XRF)

M1 MISTRAL

紧凑型台式微区 XRF 光谱仪

块体材料和镀层

经济高效的运营

M1 MISTRAL Micro-XRF

高亮

100 μm
最小点大小
甚至可以对电路板上的精细镀层分析
2 nm-60 μm
用于分析多层镀层
根据 ASTM B568 和 ISO 3497 对层厚和成分进行具有挑战性的分析;包括具有重复元素的镀层;可编程多点分析
8 ppm
聚合物中的 Cu、Zn 或 Zn 中的 Pb 的检测极限
RoHS筛选,分析焊料、塑料、金属合金中的微量元素;对材料厚度进行自动校正,对PCB组件进行精确测量点定位

紧凑型多功能台式微区XRF光谱仪

关键因素

  • 灵活
  • 易于操作
  • 用户友好的触摸屏界面
  • 允许访问原始数据

M1 MISTRAL 是一种紧凑型多功能台式能量色散微区 XRF 光谱仪。 M1 MISTRAL 易于操作,设计用于在工业环境中快速、经济高效的操作,提供有关贵金属合金等材料元素成分和镀层厚度以及多层镀层的准确信息。

根据 ASTM 标准 B568 和欧洲标准 ISO 3497 对块体和镀层进行分析。通过 Rh 靶材对化学沉积磷镍 (NIP) 镀层进行分析,可实现高精度。

所有珠宝合金、铂族金属或银的精确成分可以在一分钟内确定。结果可以以重量百分比或克拉表示。

分析可以进行无标方法或基于标样的模型,以达到更高的精度。

从定位示例到在报表中打印结果 - 整个工作流程都可在软件中实现。同时,通过开放访问原始数据,保证了数据的可重现性。

优势

M1 MISTRAL 的优势

可以无破坏性地测量各种元素。无需样品制备。即使是复杂的分析任务也可以在可编程 XYZ 阶段实现自动化,只需单击鼠标即可开始。超快检测系统提供快速结果。

M1 MISTRAL 配有大面积硅漂移探测器 (SDD),具有卓越的计数速率性能和能量分辨率,可将检测限制降低至 ppm 级别。高性能检测器、数字脉冲处理和优化的几何条件可产生高效的 X 射线检测,从而快速准确地获得分析结果。

M1 MISTRAL 的易于使用且免维护的设计以及功能强大的分析软件套件允许操作,即使只有接受过简短培训的人员也能够操作。无需消耗品或气体。坚固的结构确保了最高的稳定性和免维护的操作。

规格

技术细节

激发源

  • W 靶或 Rh靶的高性能微聚焦光管
最大样本大小和重量
  • 48 x 49 x 20 cm3
  • 高达 1.8 Kg

探测器

  • Peltier 冷却,30 mm2 高性能硅漂移探测器,<150 eV 能量分辨率,在 Mn Ka
样品台最大行驶范围
  • 高达 200 mm x 175 mm x 80 mm(用于带自动对焦和Easy Load功能的电动 XYZ 样品台)

多种元素

  • 默认值:从 Ti (Z=22)W 靶 
  • 可选:从 Al (Z=13) Rh靶
仪器尺寸(W x D x H)
  • 550 mm x 680 mm x 430 mm
光斑大小
  • 0.1 mm 至 1.5 mm 的准直器自动切换
   

软件

XSpect Pro 分析软件套件

  • 仪器控制、数据采集和管理
  • 用户可选触摸屏界面
  • 样品台控制和编程
  • 金属多层镀层厚度分析
  • 定量成分分析、无标准和基于标准的经验模型
  • 具有自动峰值识别的谱线查看功能
  • 统计过程控制 (SPC) 趋势线和数据
  • 报告生成器
  • 结果存档

新闻和活动