微区X射线荧光光谱仪(Micro-XRF)

M6 JETSTREAM

高分辨率大面积微区XRF成像光谱仪

移动式微区XRF元素成像光谱仪

超快元素成像

Bruker M6 JETSTREAM µ-XRF spectrometer, Large Area macro XRF Scanner in High Definition

亮点

2 x 60
mm2
SDD 面积
双硅漂移探测器,可快速获取样品元素信息
80 x 60
cm2
可扫描面积
单次面扫描最大面积
100-500
μm
可调节光斑大小
五种光斑尺寸可调以便更好的匹配样品

最先进的大面积微区XRF元素成像技术

微区XRF(也称为macroXRF或MA-XRF)分析,已成为表征绘画、地质样品、考古文物和工业成分等对大型样品的重要方法。M6 JETSTREAM 以最高速度和精度进行微区X荧光分析。因为其具有方向可调节以可移动式支架,使得M6 JETSTREAM 可在现场使用,无需将部分无法运输样品送至实验室检测。

  • 垂直样品或水平表面的测量
  • 单次描面积高达 800 x 600 mm2
  • "On the fly"分析,以达到最高的面扫描速度
  • 可调节光斑大小以匹配样品尺寸
  • XFlash® SDD 技术,具有2 x 60 mm2 的探测器面积
  • 可选 AMS 系统, 以对不平整表面聚焦

优势

M6 JETSTREAM 能够帮您获得那哪些信息?

  • 获取任意平面内元素的空间分布信息
  • 在一次运行中采集整个大面积区域元素分布信息
  • 将高分辨率光学图像与光谱存储在一个" HyperMap "数据集中
  • 从面扫描中结果提取任意形状对象光谱、线扫描和化学相态进行进一步分析
  • 使用无标准基本参数 (FP) 方法定量分析光谱数据
  • 设备可在现场进行检测,能够有效降低成本节约时间,并且能够避免因物流等因素对贵重文物样品造成损坏
发现广泛的 mico-XRF 样品

规格

技术参数

高达 100 mm/s 平台移动速度 面扫描以"on the fly" 方式进行,单个像素点停留时间可低至 1 ms  

 

30mm2 或 60mm2 SDD,≤ 145 eV M6 JETSTREAM 可配备不同的Bruker XFlash (R) 探测器,所有探测器分辨率均在 Mn Kα ≤145 eV  

 

测量模式下的倾斜角度可为± 10° 设备除了支持在水平和垂直方式测试外,设备还可以精细倾斜角度,以适应不同角度样品测试  

 

新闻和活动