M6 JETSTREAM

2x60

mm²

Tamanho do SDD

Opção de detector de desvio de silício duplo para aquisição mais rápida

80x60

cm²

Superfície escaneável

Mapeando amostras maiores em uma corrida

100-500

µm

Tamanho do ponto ajustável

O tamanho do ponto pode ser ajustado em cinco etapas para corresponder à estrutura da amostra

Estado da Arte em Micro-XRF de Grande Área

O micro-XRF em grandes amostras (também chamado de macro-XRF ou MA-XRF) tornou-se um método decisivo para a análise de pinturas, amostras geológicas, artefatos arqueológicos e componentes industriais. O M6 JETSTREAM conduz essas análises à mais alta velocidade e precisão. Com sua distância entre eixos móvel e estrutura ajustável, o M6 JETSTREAM pode ser usado no local em vez de transportar a amostra para o laboratório.

Medição de amostras verticais ou superfícies horizontais
Área escaneável até 800 x 600 mm²
Análise "on the fly" para maior velocidade de mapeamento
Tamanho do ponto ajustável para combinar com a estrutura da amostra
Tecnologia XFlash® SDD com área de detector de até 2 x 60 mm²
Sistema de gerenciamento de abertura (AMS) opcional para obter profundidade de foco em superfícies irregulares

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O que você pode esperar do M6 JETSTREAM?

Micro-XRF Study of the Troodontid Dinosaur Jianianhualong Tengi Reveals New Biological and Taphonomical Signals, Jinhua Li et. al, Atomic Spectroscopy 2021 42(1)

Obtenha informações espacialmente resolvidas sobre a distribuição elementar de quase qualquer superfície
Registre dados em grandes áreas em uma corrida
Combine imagens ópticas de alta resolução com um espectro completo por pixel em um conjunto de dados HyperMap
Processe dados e extraia espectros de objetos, varreduras de linha e fases químicas de mapas
Quantificar espectros usando métodos de parâmetros fundamentais (FP) sem padrão
Reduza custos e tempo evitando a logística e garantindo a segurança de objetos valiosos

Discover the broad range of mico-XRF samples

Desempenho Inigualável em Superfícies muito Grandes

Detalhes Técnicos

Up to 100 mm/s stage speed	Mapping can be conducted "on the fly" with dwell times down to 1 ms per pixel
30mm² or 60mm² SDDs with ≤145 eV	The M6 JETSTREAM can be equipped with different Bruker XFlash® detectors, all specified with ≤145 eV at Mn Kα
±10° tilt in vertical measurement mode	In addition to the 90° tilt between horizontal and vertical measurement, the rig can be tilted in fine steps to adjust to inclined surfaces