Espectrômetros Micro-XRF

M6 JETSTREAM

Scanner micro-XRF de grande área em alta definição

Análise Elementar Móvel

Mapeamento Ultrarrápido

Destaques

2x60
mm²
Tamanho do SDD
Opção de detector de desvio de silício duplo para aquisição mais rápida
80x60
cm²
Superfície escaneável
Mapeando amostras maiores em uma corrida
100-500
µm
Tamanho do ponto ajustável
O tamanho do ponto pode ser ajustado em cinco etapas para corresponder à estrutura da amostra

Estado da Arte em Micro-XRF de Grande Área

O micro-XRF em grandes amostras (também chamado de macro-XRF ou MA-XRF) tornou-se um método decisivo para a análise de pinturas, amostras geológicas, artefatos arqueológicos e componentes industriais. O M6 JETSTREAM conduz essas análises à mais alta velocidade e precisão. Com sua distância entre eixos móvel e estrutura ajustável, o M6 JETSTREAM pode ser usado no local em vez de transportar a amostra para o laboratório.

  • Medição de amostras verticais ou superfícies horizontais
  • Área escaneável até 800 x 600 mm²
  • Análise "on the fly" para maior velocidade de mapeamento
  • Tamanho do ponto ajustável para combinar com a estrutura da amostra
  • Tecnologia XFlash® SDD com área de detector de até 2 x 60 mm²
  • Sistema de gerenciamento de abertura (AMS) opcional para obter profundidade de foco em superfícies irregulares

Benefícios

O que você pode esperar do M6 JETSTREAM?

Micro-XRF Study of the Troodontid Dinosaur Jianianhualong Tengi Reveals New Biological and Taphonomical Signals, Jinhua Li et. al, Atomic Spectroscopy 2021 42(1)
  • Obtenha informações espacialmente resolvidas sobre a distribuição elementar de quase qualquer superfície
  • Registre dados em grandes áreas em uma corrida
  • Combine imagens ópticas de alta resolução com um espectro completo por pixel em um conjunto de dados HyperMap
  • Processe dados e extraia espectros de objetos, varreduras de linha e fases químicas de mapas
  • Quantificar espectros usando métodos de parâmetros fundamentais (FP) sem padrão
  • Reduza custos e tempo evitando a logística e garantindo a segurança de objetos valiosos
Discover the broad range of mico-XRF samples

Especificações

Detalhes Técnicos

Up to 100 mm/s stage speed Mapping can be conducted "on the fly" with dwell times down to 1 ms per pixel  

     

30mm² or 60mm² SDDs with ≤145 eV The M6 JETSTREAM can be equipped with different Bruker XFlash® detectors, all specified with ≤145 eV at Mn Kα  

 

±10° tilt in vertical measurement mode In addition to the 90° tilt between horizontal and vertical measurement, the rig can be tilted in fine steps to adjust to inclined surfaces