Espectrómetros Micro-XRF

M6 JETSTREAM

Escáner micro-XRF de área grande en alta definición

Análisis de elementos móvil

Mapeo ultrarrápido

Bruker M6 JETSTREAM µ-XRF spectrometer, Large Area macro XRF Scanner in High Definition

Lo más destacado

2x60
mm²
Tamaño SDD
Opción de detector de deriva de silicio dual para una adquisición más rápida
80x60
cm²
Superficie escaneable
Mapeo de muestras más grandes en una sola ejecución
100-500
µm
Tamaño de punto ajustable
El tamaño del punto se puede ajustar en cinco pasos para que coincida con la estructura de la muestra

La vanguardia en micro-XRF de grandes áreas

Micro-XRF en muestras grandes (también llamado macro-XRF o MA-XRF) se ha convertido en un método decisivo para el análisis de pinturas, muestras geológicas, artefactos arqueológicos y componentes industriales. El M6 JETSTREAM conduce estos análisis a la máxima velocidad y con la mayor precisión. Con su distancia entre ejes móvil y el marco ajustable, el M6 JETSTREAM se puede utilizar in situ en lugar de transportar la muestra al laboratorio.

  • Medición de muestras verticales o superficies horizontales
  • Superficie escaneable hasta 800 x 600 mm²
  • Análisis "sobre la marcha" para mayor velocidad de mapeo
  • Tamaño del punto ajustable para que coincida con la estructura de la muestra
  • Tecnología XFlash® SDD con un área de detector de hasta 2 x 60 mm²
  • Sistema de gestión de apertura opcional (AMS) para obtener profundidad de enfoque en superficies irregulares

Beneficios

¿Qué puede esperar del M6 JETSTREAM?

Micro-XRF Study of the Troodontid Dinosaur Jianianhualong Tengi Reveals New Biological and Taphonomical Signals, Jinhua Li et. al, Atomic Spectroscopy 2021 42(1)
  • Obtención de información con resolución espacial sobre la distribución elemental de casi cualquier superficie
  • Registro de datos en grandes ares en una sola ejecución
  • Combinación imágenes ópticas de alta resolución con un espectro completo por píxel en un cubo de datos HyperMap
  • Procesamiento de datos y extracción de espectros de objetos, escaneos de línea y fases químicas de mapas
  • Cuantificación de espectros utilizando métodos de parámetros fundamentales (FP) sin estándares
  • Reducción del costo y el tiempo evitando el transporte y garantizando la seguridad de objetos valiosos
Descubra la amplia gama de muestras mico-XRF

Especificaciones

Técnicas

Velocidad de platina de hasta 100 mm/s El mapeo se puede llevar a cabo "sobre la marcha" con tiempos de permanencia de hasta 1 ms por píxel  

 

SDD de 30 mm² o 60 mm² con ≤145 eV El M6 JETSTREAM puede equiparse con diferentes detectores Bruker XFlash®, todos especificados con ≤145 eV en Mn K  

 

±10° de inclinación en el modo de medición vertical Además de la inclinación de 90° entre la medición horizontal y vertical, la plataforma se puede inclinar en intervalos pequeños para ajustarse a la superficie inclinada  

 

Noticias y eventos