微区X射线荧光光谱仪(Micro-XRF)

ELIO

非接触式微区XRF成像光谱仪

市场上唯一的便携式 XRF 元素成像光谱仪

用于元素分析的高质量光谱仪

BRUKER ELIO µ-XRF measuring head, Portable XRF Scanner

亮点

2.1
Kg
测量头的总重量
便携式XRF成像光谱仪
1
mm
空间分辨率
100 x 100
mm2
扫描区域
同时获得多个元素的成像

带成像功能的便携式微区 XRF 光谱仪

关键特点

  • 真正的便携和灵活
  • 非接触式测量
  • 无损
  • 无需样品制备
  • 激光聚焦和显微摄像头,用于精确控制测量位置
  • 元素分布和光学图像的叠加
  • 可靠的微量元素检测能力

布鲁克 ELIO 易于操作,并可以揭示了您所测试的对象的重要信息。使用布鲁克 ELIO 时,文物是绝对安全的。非接触式测量是完全无损的,并且无需样品制备。

测量头和三脚架的轻重量使该系统成为市场上唯一真正便携式的 X 射线荧光光谱仪(pXRF),且具有扫描功能。

激光器聚焦可轻松识别待测量点,并确保样品和测量头之间的正确安全距离。除了 XRF 数据之外,每个数据点还用内部摄像机记录高分辨率光学图像。

布鲁克 ELIO 提供卓越的光谱质量,背景极低,可实现可靠的微量元素定性探测分析。该仪器还可以配备 He 吹扫系统,可将检测元素的范围扩展到 Na (Z = 11) 到 U (Z = 92)。布鲁克 ELIO 微区XRF 光谱仪凭借卓越的电子器件设计,能可靠地探测微量元素。光谱仪可配备多个初始滤光片,以优化特殊应用的激发条件。

ELIO 软件可以记录并保存光谱或面扫描数据。自动峰位识别可以快速提示样品中可能存在的元素。该软件界面可以在采集光谱的同时显示谱线以及所选元素含量。通过光学图像和 XRF 数据的叠加,数据解析将变得非常简单。
强大的数据处理软件ESPRIT Reveal提供了许多离线分析选项。

优势

为什么布鲁克ELIO很重要

"颜料的成分是什么?这种颜料是画家或这个时代特有的吗?油画中是否还隐藏着另一层颜料?"

这些问题在艺术考古以及鉴定方面备受关注。但原则上并不仅限于油画。在研究各类文物的来源时,XRF是一个关键技术。

使用ELIO测量元素分布和组成可以避免珍贵的艺术品(如油画或历史文物)的运输。如果文物太重或太大,运输可能不可行,如岩画和洞穴油画的测试。布鲁克 ELIO 是唯一一款真正便携的 XRF (pxrf) 成像光谱仪。开放式设计系统设计允许在现场对样品进行无损分析。

布鲁克 ELIO 可用于点测量或使用成像选项在 100 mm x 100 mm 的大区域中同时探测多个元素的分布。在如此大的区域收集 XRF 光谱也称为macro-XRF 或 MA-XRF。

规格

技术细节

激发和滤片选项

 

  • Rh 靶微聚焦 X 射线管(可提供 Au 或 Ag 靶材),10 ~ 50 kV,5 ~ 200 μA,4 W
  • 几种滤片可选: Al, Ag, Cu, Ti,...
分析范围
  • Na (Z = 11) 到 U (Z = 92),
  • He气吹扫选项可使得轻元素探测低至 Na

探测器


  • 17 mm2 SDD,带Cube技术,能量分辨率 < 140 eV,用于 Mn Ka,可选 50 mm2 大面积 SDD
扫描
  • 电动 XY 平台(可选),安装在三脚架上,用于 1D 或 2D 制图,总行程为 100 mm x 100 mm
  • 高度集成的成像软件用于自动控制和成像可视化

准直器

 

  • 1 mm
尺寸和重量
  • 测量头 W x D x H: 170 mm x 265 mm x 170 mm,重量 2.1 千克
  • 带齿轮柱的三脚架:重量 4.3 kg,高度调整 43 cm - 188 cm,
  • 定位杆:长度 120 mm

新闻和活动

更多信息

资源和出版物