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微区X射线荧光光谱仪（Micro-XRF）

ELIO

非接触式微区XRF成像光谱仪

市场上唯一的便携式 XRF 元素成像光谱仪

用于元素分析的高质量光谱仪

2.1
Kg
测量头的总重量
便携式XRF成像光谱仪
1
mm
空间分辨率
100 x 100
mm2
扫描区域
同时获得多个元素的成像

带成像功能的便携式微区 XRF 光谱仪

关键特点

  • 真正的便携和灵活
  • 非接触式测量
  • 无损
  • 无需样品制备
  • 激光聚焦和显微摄像头，用于精确控制测量位置
  • 元素分布和光学图像的叠加
  • 可靠的微量元素检测能力

布鲁克 ELIO 易于操作，并可以揭示了您所测试的对象的重要信息。使用布鲁克 ELIO 时，文物是绝对安全的。非接触式测量是完全无损的，并且无需样品制备。

测量头和三脚架的轻重量使该系统成为市场上唯一真正便携式的 X 射线荧光光谱仪（pXRF），且具有扫描功能。

激光器聚焦可轻松识别待测量点，并确保样品和测量头之间的正确安全距离。除了 XRF 数据之外，每个数据点还用内部摄像机记录高分辨率光学图像。

布鲁克 ELIO 提供卓越的光谱质量，背景极低，可实现可靠的微量元素定性探测分析。该仪器还可以配备 He 吹扫系统，可将检测元素的范围扩展到 Na （Z = 11） 到 U （Z = 92）。布鲁克 ELIO 微区XRF 光谱仪凭借卓越的电子器件设计，能可靠地探测微量元素。光谱仪可配备多个初始滤光片，以优化特殊应用的激发条件。

ELIO 软件可以记录并保存光谱或面扫描数据。自动峰位识别可以快速提示样品中可能存在的元素。该软件界面可以在采集光谱的同时显示谱线以及所选元素含量。通过光学图像和 XRF 数据的叠加，数据解析将变得非常简单。
强大的数据处理软件ESPRIT Reveal提供了许多离线分析选项。

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为什么布鲁克ELIO很重要

"颜料的成分是什么？这种颜料是画家或这个时代特有的吗？油画中是否还隐藏着另一层颜料？"

这些问题在艺术考古以及鉴定方面备受关注。但原则上并不仅限于油画。在研究各类文物的来源时，XRF是一个关键技术。

使用ELIO测量元素分布和组成可以避免珍贵的艺术品（如油画或历史文物）的运输。如果文物太重或太大，运输可能不可行，如岩画和洞穴油画的测试。布鲁克 ELIO 是唯一一款真正便携的 XRF （pxrf） 成像光谱仪。开放式设计系统设计允许在现场对样品进行无损分析。

布鲁克 ELIO 可用于点测量或使用成像选项在 100 mm x 100 mm 的大区域中同时探测多个元素的分布。在如此大的区域收集 XRF 光谱也称为macro-XRF 或 MA-XRF。

您的分析挑战是什么？

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技术细节

激发和滤片选项

 
  • Rh 靶微聚焦 X 射线管（可提供 Au 或 Ag 靶材），10 ~ 50 kV，5 ~ 200 μA，4 W
  • 几种滤片可选： Al， Ag， Cu， Ti，...
 分析范围
  • Na （Z = 11） 到 U （Z = 92），
  • He气吹扫选项可使得轻元素探测低至 Na

探测器
  • 17 mm2 SDD，带Cube技术，能量分辨率 < 140 eV，用于 Mn Ka，可选 50 mm2 大面积 SDD
 扫描
  • 电动 XY 平台（可选），安装在三脚架上，用于 1D 或 2D 制图，总行程为 100 mm x 100 mm
  • 高度集成的成像软件用于自动控制和成像可视化

准直器

 
  • 1 mm
 尺寸和重量
  • 测量头 W x D x H： 170 mm x 265 mm x 170 mm，重量 2.1 千克
  • 带齿轮柱的三脚架：重量 4.3 kg，高度调整 43 cm - 188 cm，
  • 定位杆：长度 120 mm

网络研讨会

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Flexible and portable XRF mapping solutions for Art and Conservation: Bruker’s ELIO and CRONO spectrometers

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