微区X射线荧光光谱仪(Micro-XRF)

M4 TORNADO PLUS

可用于超轻元素分析的微区XRF成像光谱仪

面扫描分析元素可低至C

支持He吹扫常压下对含水样品进行轻元素测试

BRUKER M4 TORNADO PLUS µ-XRF spectrometer scanning super-light elements

亮点

C
最低可检测元素
元素周期表从C开始的全部元件都可以进行检测
>6
mm
AMS 聚焦深度
AMS系统能够对不平整样品表面图像进行清晰拍摄
0.5-4.5
mm
可选准直器尺寸
附加光管支持四种不同尺寸准直器更换

革命性的超轻元素微区XRF成像光谱仪

对比以往X射线荧光光谱仪, Bruker最新微区XRF 能够为您更多的展现样品中的元素信息,让您对您的样品了解更多。

M4 TORNADO PLUS 具有超轻元素探测器,是首台能够测量 6 号元素(C)以上任何元素的微区 XRF 成像光谱仪。此外,所有轻元素的检测灵敏度都显著提高。

在该仪器上,Bruker引入了最新专利AMS系统该系统可有效增强多导毛细管的聚焦深度,从而对不均匀样品进行更为清晰的元素成像。可选的第二个 X 射线源进一步扩展了设备的分析功能,支持从 0.5 mm 到 4.5 mm四个可选光斑尺寸。

更轻,更快,更深。

M4 TORNADO 系列产品样品仓支持He吹扫模式进行测试。这可在保持大气压力的条件下显著提高轻元素的测试性能,可对生物或湿样品中的轻元素进行分析,而无需冻结或干燥样品。

M4 TORNADO PLUS:超光元件微XRF光谱仪

优势

PLUS卓越的分析性能

  • 可对固体、颗粒或液体样品进行测试,具有 M4 TORNADO 系列产品所具备的所有测试功能
  • 扩展您的 micro-XRF 的元素测试范围,能够从6号元素C开始记录光谱、线扫描和样品元素的面分布信息
  • 在 HyperMap 中记录和保存每像素点的光学图像和完整光谱信息
  • 通过将聚焦 X 射线光束与两个高通量超轻元素SDD探测器相结合,可有效缩短测量时间
  • 使用可调整的基本参数法获得快速定量结果,或使用Bruker的 XMethod 软件进行有标样支持或者完全基于标准参数法的镀层样品厚度分析
  • 使用AMS系统采集高聚焦深度的不均匀样品表面元素分布图像 
  • 在整个仪器的使用周期内,可通过升级和维护服务包提升使用性能

新闻和活动

更多信息

资源和出版物