Espectrômetros Micro-XRF

M4 TORNADO PLUS

Elementos super leves em micro-XRF

Mapeamento XRF para Carbono

A Purga para Amostras Sensíveis

Destaques

Carbono
Elemento detectável mais baixo
Todos os elementos a partir do carbono podem ser medidos
>6
mm
Profundidade de foco com AMS
O sistema de gerenciamento de abertura (AMS) permite uma imagem nítida em amostras topográficas
0.5-4.5
mm
Tamanhos de colimadores selecionáveis
Trocador de colimador de quatro posições no tubo adicional

O Revolucionário Scanner micro-XRF de Elemento Super Leve

Com o mais novo modelo da família de micro-XRF da Bruker, você pode descobrir mais sobre sua amostra do que o XRF já mostrou antes.

Com seus detectores de elementos super leves, o M4 TORNADO PLUS é o primeiro scanner micro-XRF capaz de medir qualquer elemento do carbono para cima. Além disso, o desempenho de todos os elementos leves é fortemente aumentado.

Neste instrumento, a Bruker introduziu o sistema patenteado de gerenciamento de abertura (AMS) que aumenta a profundidade de foco da lente policapilar para mapeamentos de elementos mais nítidos de amostras irregulares. A segunda fonte de raios X opcional amplia ainda mais as capacidades analíticas com seus quatro tamanhos de pontos selecionáveis de 0,5 a 4,5 mm.

Mais leve, mais rápido, mais profundo.

A câmara da família M4 TORNADO oferece uma opção para He-flush. Isso aumenta o desempenho do elemento leve, mantendo a pressão atmosférica na câmara. Elementos leves em amostras biológicas ou úmidas podem ser analisados sem a necessidade de congelar ou secar as amostras.

M4 TORNADO PLUS: Super-Light Element micro-XRF spectrometer

Benefícios

Beneficie-se do PLUS em Desempenho Analítico

  • Meça sólidos, partículas ou líquidos com todas as vantagens que a comprovada família M4 TORNADO tem a oferecer
  • Amplie sua experiência em micro-XRF com a capacidade de registrar espectros, varreduras de linha e mapas de toda a faixa de elementos começando no carbono
  • Grave e salve uma combinação de imagem óptica e informações espectrais completas por pixel em um cubo de dados HyperMap
  • Reduza o tempo de medição através da combinação do feixe de raios X focado com dois detectores SD de elemento super leve de alto rendimento
  • Obtenha resultados de quantificação rápidos com uma rotina de parâmetro fundamental configurável ou use o software XMethod da Bruker para quantificação de espessura de camada com suporte padrão, totalmente baseado em padrão e
  • Mapeie amostras irregulares em alta profundidade de foco usando o sistema de gerenciamento de abertura (AMS)
  • Melhore o desempenho com atualizações e pacotes de serviços durante toda a vida útil do instrumento

Mais informações

Recursos e Publicações

Publicações