M4 TORNADO PLUS

Carbono

Elemento detectable más bajo

Todos los elementos a partir del carbono se pueden medir

>6

Mm

Profundidad de enfoque con AMS

El sistema de gestión de apertura (AMS) permite una imagen nítida en muestras topográficas

0.5-4.5

Mm

Tamaños de colimador seleccionables

Cambiador de colimador de cuatro posiciones en el tubo adicional

El revolucionario espectrometro micro-XRF para elemento súper ligeros

El miembro más reciente de la familia de espectrómetros de Bruker le permitirá obtener más información sobre su muestra de lo que XRF nunca antes había conseguido.

Con sus detectores de elementos súper ligeros, el M4 TORNADO PLUS es el primer escáner micro-XRF capaz de medir cualquier elemento a partir del carbono. Además, el rendimiento en todos los elementos ligeros aumenta considerablemente.

En este instrumento, Bruker introdujo el sistema patentado de gestión de apertura (AMS), que mejora la profundidad de enfoque de la lente policapilar para un mapeo de elementos más nítido en muestras desiguales. La segunda fuente de rayos X, opcional, amplía aún más las capacidades analíticas con sus cuatro tamaños de punto seleccionables de 0,5 a 4,5 mm.

Más ligero, más rápido, más profundo.

La cámara de vacío de la familia M4 TORNADO ofrece una purga de helio opcional. Esto aumenta el rendimiento en elemento ligeros mientras mantiene la presión atmosférica en la cámara. Los elementos ligeros en muestras biológicas o húmedas se pueden analizar sin necesidad de congelar o secar las muestras.

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M4 TORNADO PLUS: Espectrómetro micro-XRF para elementos súper ligeros

Benefíciese del PLUS en rendimiento analítico

Análisis de sólidos, partículas o líquidos con todas las ventajas que la bien probada familia M4 TORNADO tiene que ofrecer
Amplia experiencia en micro-XRF con la capacidad de grabar espectros, escaneos de línea y mapas en la gama completa de elementos a partir del carbono
Combinación de imagen óptica e información espectral completa por píxel en un cubo de datos de HyperMap
Tiempo de medición reducido mediante la combinación del haz de rayos X enfocado con dos detectores SDD de alto rendimiento para elementos súper ligeros
Resultados de cuantificación rápidos con una rutina configurable de parámetros fundamentales o utilizando el software XMethod de Bruker para la cuantificación del grosor de capa
Mapeos de muestras desiguales a alta profundidad de enfoque utilizando el sistema de gestión de apertura (AMS)
Rendimiento inmejorable con actualizaciones y paquetes de servicio durante toda la vida útil del instrumento