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微区X射线荧光光谱仪(Micro-XRF)

M4 TORNADO

固体、镀层、颗粒和液体样品的元素分析

配置灵活

测试快速准确

M4 TORNADO µ-XRF BRUKER Element Analysis for Solids, Layers, Particles and Liquids

亮点

<20
μm
光斑大小
聚焦X射线多导毛细管
1
ms
单个像素像素点最短停留时间
面扫描中样品台移动速度可高达 100 mm/s
12
镀层分析
可选配XMethod软件分析多层镀层样品

高性能微区XRF,具有市场领先的分析速度和功能多样性

M4 TORNADO 是使用小光斑微区 X 射线荧光进行样品表征的首选设备。其测量结果能够提供样品的相关成分和元素分布的信息,甚至样品表面下元素分布信息。Bruker微区X射线光谱仪经过优化,可对任何类型的样品的点、线和二维区域扫描(Mapping)进行高速分析; 样品类型可为固态,液态,颗粒等。

靶材产生的X 射线经过多导毛细管聚焦后,在保证荧光强度的同时可产生极小的光斑。M4 TORNADO 可选配多个Bruker XFlash 硅漂移探测器 (SDD),可在不影响能量分辨率的情况下实现荧光信号的高吞吐量处理。

M4 TORNADO 还可额外选配第二根X 射线光管,它提供了不同的靶材以及准直器,可实现设备分析功能的极大拓展。

其他可选高级配置选项:

  • He吹扫能够极大提高轻元素检测灵敏度,使得设备可在样品仓常压下对轻元素检测
  • 可快速更换的地质样品测试支架,适用于矿物薄片和岩芯测试
  • XMethod 软件,支持用户自主建立包含镀层在内的多样定量分析方法
  • 用于矿物 分析的AMICS 软件

 

优势

M4 TORNADO 如何支持您的分析?

测量时间短。优化的 X 射线光路、高通量探测器、"On-the -fly" mapping ,单点测试时间可低至 1 ms。

测量样品高达 7kg。大型真空样品仓,可自由调节真空度,最低可至2mbar,自动He或N2吹扫,可检测含水样品中的轻元素。

单次面扫描面积高达 190 x 160 mm2 的面积。单次扫描多达 4000万像素点 。数据存储为HyperMap,包含所有像素点光谱信息以及光学图像。

定量分析单点,线扫描,面扫描测试结果。配置的基本参数方法,可选的XMethod软件包,实现对镀层等样品的准确定量。

处理数据。强大的分析软件,可在面扫描结果中选择任意对象(椭圆,矩形,多边形)进行光谱提取,线扫描数据提取,最大像素光谱,相分析。

扩展功能。可结合用户实际需求提供定制化配置,以满足您的分析需求。

发现广泛的 mico-XRF 样品

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