Dispersión SNOM
Microscopía óptica de campo cercano de dispersión por infrarrojos (s-SNOM)
Esta técnica proporciona información sobre las propiedades ópticas complejas de la región de nanoescala de la muestra bajo una punta metalizada. Específicamente, tanto la amplitud óptica como la fase de la luz dispersa se pueden medir. Con los modelos adecuados, estas mediciones pueden estimar las complejas constantes ópticas (n, k) del material. Además, la fase óptica frente a la longitud de onda proporciona una buena aproximación a un espectro de absorción IR convencional generalmente de incidencia de pastoreo.
La técnica s-SNOM funciona en una variedad de materiales, pero la mejor señal al ruido tiende a estar en materiales más duros con alta reflectividad, altas constantes dieléctricas y/o resonancias ópticas fuertes. Los nanoIR3-s de Bruker proporcionan una plataforma ideal para las capacidades s-SNOM, eliminando la necesidad de alineaciones ópticas complejas:
- La dirección de haz adaptativa patentada y todas las ópticas reflectantes permiten una amplia compatibilidad de longitud de onda, al tiempo que eliminan la realineación y el reenfoque en diferentes longitudes de onda
- El control dinámico de potencia patentado mantiene una potencia y una señal óptimas en una amplia gama de fuentes, longitudes de onda y muestras
- Las sondas premontadas y la alineación motorizada de punta, muestra y fuente eliminan los pasos tediosos en la instalación y re-optimización de la sonda
10nm Resolución Espacial De Imágenes Químicas y Espectroscopia
Plasmónicos de grafeno
Asignación de propiedades de alta resolución
Espectroscopia Nano FTIR de alto rendimiento
Espectroscopia IR SNOM de mayor rendimiento con la fuente láser nanoIR más avanzada disponible.
- espectroscopia nano FTIR con DFG integrado, fuente láser basada en continuo
- Integración de fuente de luz sincrotrón de banda ancha
- Fuente láser QCL multi chip para espectroscopia e imágenes químicas
Combine S-SNOM y AFM-IR para crear nuevos datos notables
Las imágenes complementarias AFM-IR y Scattering SNOM revelan, por primera vez, los orígenes a microescala de la quiralidad óptica en estructuras plasmónicas. Al acceder tanto a la información radiativa (s-SNOM) como a la no radiativa (AFM-IR) sobre estructuras plasmónicas, se pueden obtener propiedades plasmónicas únicas y complementarias.
nanoIR3-s se extiende más allá del nanoIR a visible y THz y haz de sincrotrón
- nanoIR3-s permite imágenes SNOM visibles
- El sistema admite imágenes tHz y espectroscopia
- Diseño especial disponible para su uso en sincrotrón
- Fácil cambio sobre la configuración láser para maximizar el tiempo de medición
- Intercambio sencillo de componentes ópticos y detectores
Eliminación de la necesidad de alineaciones ópticas complejas
- La dirección de haz adaptativa patentada y todas las ópticas reflectantes permiten una amplia compatibilidad de longitud de onda, al tiempo que eliminan la realineación y el reenfoque en diferentes longitudes de onda
- El control dinámico de potencia patentado mantiene una potencia y una señal óptimas en una amplia gama de fuentes, longitudes de onda y muestras
- Las sondas premontadas y la alineación motorizada de punta, muestra y fuente eliminan los pasos tediosos en la instalación y re-optimización de la sonda
