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Espectroscopia infrarroja a nanoescala

Dispersión SNOM

La técnica s-SNOM proporciona información sobre las complejas propiedades ópticas de la región a nanoescala de la muestra

Microscopía óptica de campo cercano de dispersión por infrarrojos (s-SNOM)

Esta técnica proporciona información sobre las propiedades ópticas complejas de la región de nanoescala de la muestra bajo una punta metalizada. Específicamente, tanto la amplitud óptica como la fase de la luz dispersa se pueden medir. Con los modelos adecuados, estas mediciones pueden estimar las complejas constantes ópticas (n, k) del material. Además, la fase óptica frente a la longitud de onda proporciona una buena aproximación a un espectro de absorción IR convencional generalmente de incidencia de pastoreo.

La técnica s-SNOM funciona en una variedad de materiales, pero la mejor señal al ruido tiende a estar en materiales más duros con alta reflectividad, altas constantes dieléctricas y/o resonancias ópticas fuertes. Los nanoIR3-s de Bruker proporcionan una plataforma ideal para las capacidades s-SNOM, eliminando la necesidad de alineaciones ópticas complejas:

  • La dirección de haz adaptativa patentada y todas las ópticas reflectantes permiten una amplia compatibilidad de longitud de onda, al tiempo que eliminan la realineación y el reenfoque en diferentes longitudes de onda
  • El control dinámico de potencia patentado mantiene una potencia y una señal óptimas en una amplia gama de fuentes, longitudes de onda y muestras
  • Las sondas premontadas y la alineación motorizada de punta, muestra y fuente eliminan los pasos tediosos en la instalación y re-optimización de la sonda

10nm Resolución Espacial De Imágenes Químicas y Espectroscopia

Plasmónicos de grafeno

imágenes de fase y amplitud s-SNOM de plasmon polariton superficial (SPP) en una cuña de grafeno. (izquierda) fase s-SNOM con una sección transversal de línea de la onda de pie SPP; (derecha) amplitud s-SNOM. La imagen superior es una vista 3D de la imagen de fase (izquierda).

Asignación de propiedades de alta resolución

La sección transversal a través de la escama de grafeno muestra imágenes de propiedades ópticas de resolución de menos de 10 nm.

Espectroscopia Nano FTIR de alto rendimiento

Espectroscopia IR SNOM de mayor rendimiento con la fuente láser nanoIR más avanzada disponible.

  • espectroscopia nano FTIR con DFG integrado, fuente láser basada en continuo
  • Integración de fuente de luz sincrotrón de banda ancha
  • Fuente láser QCL multi chip para espectroscopia e imágenes químicas
Espectroscopia SNOM de dispersión de banda ancha ultrarrápida que sondea información vibracional molecular. El interferograma láser de politetrafluoroetileno (PTFE) muestra una vibración molecular coherente en forma de descomposición de inducción libre en el dominio del tiempo (arriba). La característica resaltada en el interferograma de muestra se debe a la paliza del modo simétrico y antisimétrico de los modos C-F en el dominio de frecuencia resultante (abajo a la izquierda). La sensibilidad monocapa de nano-FTIR se demuestra en un pNTP monocapa (abajo a la derecha). Datos cortesía del Prof. Markus Raschke, Universidad de Colorado, Boulder, ESTADOS Unidos.

Combine S-SNOM y AFM-IR para crear nuevos datos notables

7, 12045 ('16). Doi:10.1038/ncomms12045

Las imágenes complementarias AFM-IR y Scattering SNOM revelan, por primera vez, los orígenes a microescala de la quiralidad óptica en estructuras plasmónicas. Al acceder tanto a la información radiativa (s-SNOM) como a la no radiativa (AFM-IR) sobre estructuras plasmónicas, se pueden obtener propiedades plasmónicas únicas y complementarias.

nanoIR3-s se extiende más allá del nanoIR a visible y THz y haz de sincrotrón

  • nanoIR3-s permite imágenes SNOM visibles
  • El sistema admite imágenes tHz y espectroscopia
  • Diseño especial disponible para su uso en sincrotrón
  • Fácil cambio sobre la configuración láser para maximizar el tiempo de medición
  • Intercambio sencillo de componentes ópticos y detectores
Imágenes visibles con s-SNOM usando láser HeNe de 633 nm.

Eliminación de la necesidad de alineaciones ópticas complejas

  • La dirección de haz adaptativa patentada y todas las ópticas reflectantes permiten una amplia compatibilidad de longitud de onda, al tiempo que eliminan la realineación y el reenfoque en diferentes longitudes de onda
  • El control dinámico de potencia patentado mantiene una potencia y una señal óptimas en una amplia gama de fuentes, longitudes de onda y muestras
  • Las sondas premontadas y la alineación motorizada de punta, muestra y fuente eliminan los pasos tediosos en la instalación y re-optimización de la sonda