Esta técnica proporciona información sobre las propiedades ópticas complejas de la región de nanoescala de la muestra bajo una punta metalizada. Específicamente, tanto la amplitud óptica como la fase de la luz dispersa se pueden medir. Con los modelos adecuados, estas mediciones pueden estimar las complejas constantes ópticas (n, k) del material. Además, la fase óptica frente a la longitud de onda proporciona una buena aproximación a un espectro de absorción IR convencional generalmente de incidencia de pastoreo.
La técnica s-SNOM funciona en una variedad de materiales, pero la mejor señal al ruido tiende a estar en materiales más duros con alta reflectividad, altas constantes dieléctricas y/o resonancias ópticas fuertes. Los nanoIR3-s de Bruker proporcionan una plataforma ideal para las capacidades s-SNOM, eliminando la necesidad de alineaciones ópticas complejas:
Espectroscopia IR SNOM de mayor rendimiento con la fuente láser nanoIR más avanzada disponible.
Las imágenes complementarias AFM-IR y Scattering SNOM revelan, por primera vez, los orígenes a microescala de la quiralidad óptica en estructuras plasmónicas. Al acceder tanto a la información radiativa (s-SNOM) como a la no radiativa (AFM-IR) sobre estructuras plasmónicas, se pueden obtener propiedades plasmónicas únicas y complementarias.