software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

LEPTOS Software

LEPTOS es una suite completa de aplicaciones para la evaluación de datos de reflectometría de rayos X (XRR), difracción de rayos X de alta resolución (HRXRD), Dispersión de rayos X en ángulo de incidencia rasante (GISAXS) y tensión residual (RS).

La reflectividad de rayos X (XRR) proporciona información detallada del perfil de densidad vertical, el grosor de la capa y la rugosidad de la interfaz. La difracción de rayos x de alta resolución (HRXRD) mide la estructura cristalográfica de la muestra. La dispersión en ángulo de incidencia rasado (GISAXS) se utiliza para la evaluación de las nanopartículas y la porosidad. El análisis de tensión residual prueba el estado de tensión de las muestras a granel y los recubrimientos policristalinos.

Junto con la exploración convencional de una sola curva, LEPTOS permite realizar análisis de alta resolución HRXRD y mapas XRR de espacio recíproco, GISAXS y marcos de tensión XRD², mapeo de área para HRXRD, XRR y apliaciones de tensión residual. No importa qué datos se hayan recopilado con los detectores 0-D, 1-D ó 2-D.

 

El GUI puede ser personalizado para adaptarse a las necesidades de los investigadores científicos y operadores industriales.

 

  • Evaluación conjunta de varias mediciones XRR, HRXRD, GISAXS y RS
  • Teorías avanzadas de dispersión de rayos X y métodos numéricos para la estimación, simulación y ajuste de datos en el espacio directo y recíproco
  • Procesamiento integrado naturalmente de los conjuntos de datos de una y dos dimensiones medidos por punto, líneas y detectores bidimensionales
  • Editor modelo de muestra universal para parametrizar cualquier tipo de película fina y muestras a granel
  • Base de datos de materiales integral y extensible que abarca todos los 230 grupos cristalográficos.
  • Herramienta de asignación de área para la visualización y evaluación de las mediciones realizadas en áreas de muestra grandes
  • Método Sin²ψ avanzado para el análisis de tensiones residuales de datos de 1D y 2D, así como el método (hkl) múltiple de evaluación el gradiente de tensión en recubrimientos policristalinos
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