software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

LEPTOS R

LEPTOS R está diseñado para el análisis de datos de reflectividad de rayos X (XRR) y dispersión difusa de espejo (DS) de estructuras de capas finas. Este módulo está totalmente integrado en la suite LEPTOS, que incorpora el análisis simultáneo de datos HRXRD, GISAXS y XRR. Como parte de la suite LEPTOS, el módulo R hereda toda la funcionalidad común para todo el paquete.

 

LEPTOS R ha sido altamente valorado según varios estándares internacionales, incluyendo el proyecto VAMAS A10. La estructura del LEPTOS R es compatible con el estándar internacional desarrollado recientemente rfCIF para el formato de datos XRR.

LEPTOS R Software, XRD
With LEPTOS R diffuse scattering rods and rocking curves can be fitted both as a separate curve and as a consistent set of several curves in any combination of transverse and longitudinal scans.

Teoría

  • Formalismo de Parratt dinámicos para calcular la reflectividad de muestras de varias capas y la aproximación Born de onda distorsionada para simulación/ajuste de la dispersión de rayos X difusa especular.
  • Diversidad de modelos de rugosidad superficial para muestras con morfología de diferente crecimiento
  • Método de operador para el cálculo universal de parámetros de dispersión de rayos X de materiales cristalinos y amorfos, tales como: factores de dispersión atómica, polarizabilidades de rayos X, etc.
  • Método patentado de EigenWaves (MEW) para la aceleración esencial de los ajustes para las superredes y la repetición de multicapas

Editor de muestras

  • Editor modelo de muestras potente y flexible incluyendo las herramientas de superredes, enlace de parámetros físicos de capa, perfiles de capa definidos por el usuario
  • Base de datos de materiales ampliable por el usuario
  • Herramienta virtual difractómetro para contabilizar la función de resolución instrumental y los efectos de la huella

Evaluación de datos

  • Simulación y ajuste de la dispersión de rayos x difusa de espejo por varios modelos de correlación de rugosidad vertical y lateral; se pueden adaptar de forma consistente tanto los datos specular como off-specular
  • Simulación, estimación y ajuste de datos en un espacio directo y recíproco
  • Transformación rápida de Fourier para una rápida estimación de los espesores de la capa
  • Análisis detallado mediante el ajuste utilizando algoritmos rutinas de ajuste como genéticos, recocido simulado, Simplex o Levenberg-Marquardt rutinas de instalación
  • Exploración de la zona; evaluación automatizada de datos vía interfaz de script

Resultados

  • Los resultados se guardan en los archivos de proyecto basados en XML
  • Varias opciones de presentación de informes y exportación personalizable