software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

LEPTOS S

LEPTOS S es un módulo innovador, potente y completo para el análisis de tensiones residuales medidas por detectores 0D, 1D o 2D mediante el uso del clásico sin2ψ y métodos ampliados XRD2. El módulo está totalmente integrado en la suite LEPTOS y posee toda la funcionalidad común para todo el paquete.

LEPTOS S Software, XRD
Residual stress gradients can be calculated from multiple {hkl} measured at different grazing-incident angles. The absorption and refraction of X-rays, as well as the coating thickness, are taken into account for the calculation.

 

 

Evaluación de datos

  • Cinco métodos para encontrar una posición de pico: Gravedad, gravedad de deslizamiento, parabólica, pseudo-Voigt y Pearson VII
  • Capacidad integral de corrección de datos: absorción, sustracción de fondo, corrección de la polarización, alisado y separación Kα2
  • Base de datos de materiales ampliables por el usuario que incluye las propiedades elásticas de los materiales y las constantes elásticas de rayos X (XEC)
  • Cálculo del tensor de tensión en la muestra y coordenadas principales para modelos normales, cizallamiento y normal, biaxial, biaxial y cizallamiento y modelos de tensión triaxial
  • Comparación de los métodos XRD2 y sin2ψ mediante el uso de una herramienta de integración
  • Exploración de la zona; evaluación automatizada de datos vía interfaz de script

Teoría

  • sin2ψ clásico y extendido, así como métodos XRD2
  • Evaluación de tensiones residuales de múltiples {hkl}
  • Gradientes de tensión y esfuerzo en capas delgadas policristalinas

Resultados

  • Visualización de las regresiones εφψ (sin2ψ), dφψ (sin2ψ) y 2φψ (sin2ψ)
  • Matriz de orientación angular entre sistemas de coordenadas principales y de la muestra
  • Vista elipsoide de Lame
  • Los resultados se guardan en los archivos de proyecto basados en XML
  • Varias opciones de presentación de informes y exportación personalizable