Conceptos básicos de XRF y preparación de muestras para equipos de EDXRF y WDXRF

Mejorar los conocimientos teóricos y prácticos relacionados con el análisis químico elemental mediante EDXRF y WDXRF de los usuarios y no usuarios de BRUKER que tengan o no experiencia con estas técnicas analíticas.

Instructor
Ing. Cristian Roque Perdoná – Coordinador de Aplicación BAXS/ BRUKER do Brasil

Duración
32h – 100% presencial 

Plan de Estudio

Módulo I (Teórico) - 08h

• Fundamentos: El espectro electromagnético, Teoría de los rayos X;
• Tipos de equipos: espectrometría de fluorescencia de rayos X de dispersión por longitud de onda (WDXRF) y espectrometría de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía (EDXRF).
• Parámetros instrumentales:
  -    Tubos de rayos X – Relación voltaje y corriente;
  -    Cristales Analizadores;
  -    Colimadores;
  -    Detectores;
  -    Filtros;

• Calidad de los resultados: sensibilidad x precisión;
• Interferencias analíticas;
• Corrección del efecto matriz: Alfa fijo x Alfa variable;
• Solapamientos de corrección;
• Corrección Drift;
• Métodos de preparación de las muestras.

Módulo II (Prácticas) - 24h

• Preparación de muestras mediante prensado, fusión y preparación de líquidos;
• Construcción de curvas analíticas y aplicación de los recursos del software SPECTRA plus y SPECTRA.ELEMENTS;
• Análisis semicuantitativo e interpretación de los resultados de los métodos SMART-QUANT y QuantExpress;
• Construcción de curvas analíticas cuantitativas paso a paso y aplicación de los recursos del software Spectra.Elements y SPECTRA Plus;
• Definición de líneas analíticas - tensión, corriente, filtros, cristales, colimadores y detectores;
• Calibración del equipo WDXRF - herramientas de regresión lineal y linealización;
• Definición de rutinas de control y verificación de métodos.

Fechas:

• 20 al 24 de julio de 2026
  Portugués | presencial en Atibaia
• 5 al 10 de octubre de 2026
  Español | presencial en Atibaia

Ubicación: