Noções básicas de XRF e preparação de amostras para equipamentos de EDXRF e WDXRF

Aprimorar o conhecimento teórico e prático relacionado à análise química elementar usando EDXRF e WDXRF de usuários e não usuários do BRUKER, que tenham ou não experiência com essas técnicas analíticas.

Instrutor
Eng. Cristian Roque Perdoná – Coordenador de Inscrições BAXS/ BRUKER do Brasil

Duração
32h – 100% presencial 

Plano de Estudo

Módulo I (Teórico) - 08h

• Fundamentos: O espectro eletromagnético, teoria dos raios X;
• Tipos de equipamentos: espectrometria de fluorescência de raios X por dispersão de comprimento de onda (WDXRF) e espectrometria de fluorescência de raios X por energia dispersiva (EDXRF).
• Parâmetros instrumentais:
  -    Tubos de raios X – Relação de tensão e corrente;
  -    Cristais Analisadores;
  -    Collimatores;
  -    Detectores;
  -    Filtros.
  
• Qualidade dos resultados: sensibilidade x precisão;
• Interferências analíticas;
• Correção do efeito matricial: Alfa fixo x Alfa Variável;
• Sobreposições de correção;
• Correção de Drift;
• Métodos de preparação da amostra.

Módulo II (Prático) - 24h

• Preparação da amostra por prensagem, fusão e preparação de líquidos;
• Construção de curvas analíticas e aplicação dos recursos de software SPECTRA plus e SPECTRA. ELEMENTS;
• Análise semi-quantitativa e interpretação dos resultados dos métodos SMART-QUANT e QuantExpress;
• Construção de curvas analíticas quantitativas passo a passo e aplicação dos recursos de software Spectra.Elements e SPECTRA Plus;
• Definição de linhas analíticas - tensão, corrente, filtros, cristais, colimadores e detectores;
• Calibração de equipamentos WDXRF - ferramentas de regressão linear e linearização;
• Definição de rotinas de controle e verificação de métodos.

Datas:

• 20 a 24 de julho de 2026
  Português | presencial em Atibaia
• 05 a 10 de outubro de 2026
  Espanhol | presencial em Atibaia

Localização: