NANOSTAR, Small Angle X-ray Scattering System

최상의 결과를 위한 모듈형 설계

탁월한 모듈성을 지원하는 NANOSTAR는 SAXS, GISAXS 및 나노그래피를 이용해 1nm부터 약 125nm에 이르는 나조 구조의 특성과 나노 구조 표면을 분석하는데 있어 최적의 도구입니다.

미러 조절 핀홀 조준 시스템은 매우 강력한 평행 X선 빔을 사용해 측정 시간을 단축할 수 있습니다. 이와 함께 조준 시스템은 이상적인 원형 빔 형태를 유지하면서 배경 제거에 매우 효율적이어서, 대형 구조뿐 아니라 매우 약하게 산란하는 시료도 분석할 수 있습니다.

사실 NANOSTAR는 순수한 시료 속성을 분석하고, 이러한 성능은 비등방성 시료 시스템에까지도 적용됩니다. 모듈형 설계 덕분에 검출기에서 시료까지의 거리를 11.5mm에서 최대 1,070mm까지 설정할 수 있습니다. 따라서 SAXS에서 WAXS 에 이르는 전체범위를 커버할 수 있습니다.

특징

  • 최상의 유연성을 위한 모듈형 설치
  • 뛰어난 고휘도의 X선 소스: IμS, TXS 및 METALJET
  • 고감도/고해상도용 교환가능 핀홀 조준 시스템을 지원하는 MONTEL optics 
  • 기존 3핀홀과 새로운 SCATEX 2핀홀 설정을 이용하는 낮은 백그라운드의 콜리메이터 시스템
  • 다양한 종류의 시료 홀더를 수용할 수 있는 대형 시료 챔버
  • VÅNTEC-2000,정확한 광자 계수 기능을 지원하는 대형 2D 검출기
  • 다양한 q 범위를 커버하는 시료-검출기 거리 가변성

More info

GISAXS with NANOSTAR – a Synchrotron Method in the Lab PDF lab report

NANOSTAR – Small Angle X-ray Scattering Solutions PDF brochure

Available services include

  • Help desk support from highly-skilled troubleshooting professionals, to isolate and resolve hard- and software problems
  • Web-based remote instrument service for service diagnosis and applications support
  • Planned maintenance, according to your requirement
  • Customer on-site repair and maintenance service
  • Spare parts availability typically over night or within a few working days worldwide
  • Compliance services for installation qualification, operational qualification / performance verification
  • Site planning and relocation

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