Difração de raios-X e espalhamento de raios-X de pequeno ângulo
O METALJET fornece o feixe de raios-X mais brilhante de qualquer fonte de raios-X de laboratório doméstico.
Use as duas portas igualmente intensas desta fonte mais poderosa para otimizar seus experimentos de difração de raios X de proteína (PX) e espalhamento de raios X de pequeno ângulo (SAXS).
Quando se trata de difração de raios X, o D8 VENTURE com detector METALJET e PHOTON II fornece um sistema interno para cristalografia de raios X que geralmente obtém dados de qualidade síncrotron.
Para SAXS biológicos, o sistema NANOSTAR compacto e de alto desempenho é a melhor solução possível para satisfazer as crescentes demandas de dados SAXS para serem combinados quantitativamente com dados estruturais de outras técnicas, como cristalografia, NMR ou dinâmica molecular.
A configuração de porta dupla pode ser implementada com uma única estação final, o que lhe dá a flexibilidade de atualizar facilmente seus recursos. Mesmo que você não precise de uma segunda porta agora, suas necessidades futuras podem mudar.
O DIFFRAC.SUITE™ oferece uma ampla variedade de módulos de software para fácil aquisição e avaliação de dados de difração de raios X de pó. Baseado na tecnologia .NET da Microsoft, o DIFFRAC.SUITE oferece todas as vantagens da moderna tecnologia de software para estabilidade, máxima facilidade de uso e rede.
A interface de usuário totalmente personalizável é caracterizada por uma estrutura de plug-in, fornecendo uma aparência, sensação e operação comuns. Todos os módulos de software de medição e avaliação podem ser operados como aplicativos individuais ou integrados na estrutura de plug-in do DIFFRAC.SUITE. A rede ilimitada permite acesso e controle de qualquer número de difratômetros D2 PHASER, D8 ADVANCE, D8 DISCOVER e D8 ENDEAVOR dentro da rede de um cliente.
Software de Medição:
WIZARD – Method planning
COMMANDER – Method execution and direct measurements
TOOLS – Service Interface
Powder Diffraction Software:
DQUANT – Quantitative phase analysis
EVA – Phase identification and quantitative phase analysis
TOPAS – Profile analysis, quantitative analysis, structure analysis
Materials Research Software:
SAXS – Small Angle X-ray Scattering software
XRR – Comprehensive X-ray reflectometry analysis
TEXTURE – All-round Texture analysis meets ease-of-use
LEPTOS – Thin film analysis/Residual stress investigation
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