日本顕微鏡学会 第82回学術講演会
会期：2026年5月25日（月）~27日（水）
公益社団法人日本顕微鏡学会 第82回学術講演会
The 82nd Annual Meeting of The Japanese Society of Microscopy
- 日程：5月25日（月）～27日（水）
- 会場：仙台国際センター 展示棟（宮城県仙台市青葉区）
※イベント詳細は公式ページをご参照ください。
| 日時 | ランチョンセミナー | 演者 | |
5月25日（月） 12:05～12:55 | "見ながら測る"材料メカニクス：EBSD x in-situナノインデンテーションおよび温度制御ナノメカニクス | ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 | |
5月26日（火） 12:00～12:50 | ① 超高速EDSマップによる様々なアプリケーションへの応用例 ～電子ビーム敏感試料、マップ視野微小領域元素の可視化、微量元素の可視化～ ② Bruker EBSD検出器によるオンアクシス透過EBSD（TDK）アプリケーション | ブルカージャパン株式会社 X線事業部 | |
5月27日（水） 12:00～12:50 | 3D X線顕微鏡(XRM, μCT)と定量解析を活用した食品・材料内部構造の可視化と理解 | ブルカージャパン株式会社 X線事業部 |