【新測定モード】 Surface sensitive AFM-IR が切り開くナノ赤外分光の新たな未来
内容
AFM-IRは，2000年代初頭に回折限界を超える微小領域の赤外分光を行いたいという強い願いから登場した。原子間力顕微鏡（AFM）と波長可変の赤外パルスレーザーとの融合により実現したAFM-IRは，光エネルギーの吸収に基づく試料の微小な熱膨張を分析する。この試料の膨張量は局所的な光吸収量に厳密に比例するため，スペクトル測定やイメージングに用いることが可能である。AFM-IRは，ナノスケールの赤外分析のためのツールとして現在広く知られており，材料科学，生命科学，宇宙化学など様々な研究・開発領域で使用されている。
今回ご紹介するSurface sensitiveモードは，AFM-IRに加わる新たな測定モードであり， 表層 30 nm の化学構造を選択的に分析する。これにより，従来AFM-IR測定における一つの課題であった試料作製プロセスを大幅に簡略化し，見たいものをそのまま分析することが可能となる。本ウェビナーでは，その測定原理から装置構成の説明，そしてデモ機での測定の様子を交えて詳しくご紹介する。
＜形式＞
ウェビナー（オンラインによるWEBセミナー）
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＜参加費＞
無料
2021年5月13日（木）
13：30～16：15（日本時間）
※13：00ログイン受付開始（※初めてGoToWebinarでご参加の方は接続テストのため早めにログインを頂けますようお願い致します。）GoToWebinar システム要件はこちら▶ https://bit.ly/3sne6xl
こんな方におすすめ
- 従来の顕微分光技術の分解能に満足出来ない方
- コンポジット材料や多層フィルム等の成分分析及び界面の状態を総合的に評価したい方
- デバイス上に付着した微小異物の分析・故障解析をしたい方
- nanoIR3 がどのような装置が知りたい！
プレゼンター
ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 アプリケーションエンジニア 横川 雅俊