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Korrelation der Kornstatistik mit verschiedenen Eigenschaften von Industrielegierungen

Abb. 1.1: Pattern-Quality-Map, das die Mikrostruktur einer Ni-Legierung mit einer bimodalen Korngrößenverteilung zeigt. Das Map wurde mit dem eFlash XS EBSD Detektor am JSM IT200 REM aufgenommen.

Einer der wichtigsten Vorteile der EBSD-Technik ist die Ausgabe zuverlässiger Kornstatistiken, z. B. die durchschnittliche Korndurchmessergröße und -verteilung. Diese Werte können mit verschiedenen Eigenschaften des zu analysierenden Materials wie Härte, Festigkeit und Plastizität/Umformbarkeit korreliert werden. Die ESPRIT 2 Software erkennt Körner anhand von Fehlorientierungs- und Größenkriterien und berechnet automatisch den mittleren Äquivalentdurchmesser anhand flächengewichteter und arithmetischer Mittel. Korngrößen- und Kornformstatistiken werden durch eine Vielzahl von Teilmengenoptionen ergänzt, um leistungsstarke Mikrostruktur-Quantifizierungswerkzeuge zu schaffen, die Wissenschaftler und Ingenieure beim Verständnis und/oder der Vorhersage von Materialeigenschaften unterstützen.