FastScan Pro Header mockup 1154x400

Automatisierte Halbleiter

FastScan Pro Wafer v1


Wafer-Rauheitsmessung und Fehlerüberprüfung

Elektrische Charakterisierung und Fehleranalyse an Halbleiterstrukturen in Sub-10-nm-Technologie

 


Genaue Messungen von Schritthöhe und Tiefe

 

HBLED und Solar

Dimension FastScan Pro LED v1

Automatisierte HB-LED Pattern Saphire Subtrate (PSS) Messung von Tiefe und Form

Genaue HB-LED-Substratrauheit

Elektrische Charakterisierung von HB-LED und Solarmaterialien

Datenspeicherung

FastScan Pro Data Storage v1
Präzise, produktionsbasierte Slider-Messtechnik mit höchster Auflösung und hohem Durchsatz

Rauheits- und Fehlerüberprüfung der Medien mit hervorragender Auflösung

Charakterisierung der Analyse elektrischer und magnetischer Fehler für Wafer, Medien und Slider

Polymere und dünne Schichten

FastScan Pro Polymers and THins Films v1

Hochdurchsatz-Topographiemessungen zur Qualitätskontrolle

Gleichzeitige Zuordnung von Topografie und mechanischen Eigenschaften

Für eine Vielzahl von Blockcopolymeren geeignet

MEMS-Fertigung

FastScan Pro MEMS v1
Automatisierte Messung von Rauheit, Höhe und Form


Mechanische Eigenschaftsbeschreibung (Verschiebung, Dehnung) von Aktoren

Elektrische Charakterisierung von MEMS-Geräten