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Weiterführende Literatur

Broschüren und Datenblätter

•  Rasterkraftmikroskop Dimension FastScan - Broschüre  3,3 MB
Das Rasterkraftmikroskop Dimension FastScan™ zeichnet sich durch seine extreme Geschwindigkeit in der Bildgebung aus, unter der das legendäre Auflösungs- und Leistungsvermögen des Dimension Icon® nicht zu leiden hat. Mit dieser bahnbrechenden Innovation wird eine zeitsparende Erstellung veröffentlichungsreifer Daten in allen Bereichen der Rasterkraftmikroskopie ermöglicht.

• PeakForce Tapping - Broschüre 2,7 MB
Der exklusive Abtastmodus PeakForce Tapping von Bruker ist seit der Einführung des TappingMode der wichtigste wissenschaftliche Durchbruch in der Rasterkraftmikroskopie. Er liefert bisher unerreichte hochauflösende Bilderfassung, erweitert die Palette der zu untersuchenden Proben und erlaubt erstmalig die gleichzeitige Eigenschaftszuordnung im Nano-Bereich.

•  PeakForce SECM - Broschüre 2,2 MB
Der exklusive Modus PeakForce SECM™ von Bruker ist die weltweit erste kommerziell erhältliche Lösung für die auf Rasterkraftmikroskopie basierende elektrochemische Rastermikroskopie (SECM) mit einem räumlichen Auflösungsvermögen von weniger als 100 Nanometern.

• Dimension Icon SSRM - Datenblatt 1,0 MB
Das Rasterkraftmikroskop Dimension Icon SSRM-HR von Bruker ermöglicht ein erweitertes räumliches Auflösungsvermögen und die Wiederholbarkeit der Trägerprofilierung in der Ausbreitungswiderstands- Rastermikroskopie (SSRM); mit diesem Mikroskop stellen wir uns den strikten aktuellen und zukünftigen Anforderungen an Halbleiterproduktionsverfahren des ITRS.

• AutoMet-Software - Datenblatt 1,6 MB
Mit der AutoMET™-Software von Bruker gelangen präzise Messungen anhand von Rasterkraftmikroskopen in anspruchsvolle Produktionsumgebungen. AutoMET ist für DimensionFastScan und Dimension Icon erhältlich und verbindet als einzige Software hochauflösende Bildgebung mit schneller, automatisierter Messtechnik.

 

Anwendungshinweise

Hyperspektrale Kartierung mit AFM DataCube Nanoelectrical Modes durchführen - AN152 5,4 MB
DCUBE-Modi ermöglichen die gleichzeitige Erfassung von elektrischen und mechanischen Eigenschaften im Nanometerbereich in Datenwürfeln mit hoher Dichte. Für Materialwissenschaftler und -ingenieure überwindet dies langjährige Effizienz- und Charakterisierungsbarrieren.

Quantitative Messungen elastischer und viskoelastischer Eigenschaften mit FASTForce Volume CR - Anwendungshinweis 148 3,3 MB
Durch Kontaktresonanz werden sowohl elastische als auch viskoelastische Eigenschaften wie Speichermodul, Verlustmodul und -faktor verschiedener Materialien (von weichen Polymeren bis hin zu Metallen) erfasst. FASTForce Volume CR verbindet die Bilderfassung durch FASTForce Volume mit der Kontaktresonanzmethode und verfügt so über 15 verschiedene Kanäle mechanischer Daten wie Adhäsion ohne Messspitzenabnutzung oder Probenbeschädigung.

Einführung in die auf Rasterkraftmikroskopie basierende elektrochemische Scan-Mikroskopie: PeakForce SECM - Anwendungshinweis 147 1,6 MB
In diesem Anwendungshinweis geht es um PeakForce SECM, die weltweit erste vollständige, kommerziell erhältliche Lösung für auf Rasterkraftmikroskopie basierende elektrochemische Scan-Mikroskopie (SECM). Mit einer räumlichen Auflösung von weniger als 100 nm ermöglicht PeakForce SECM die gleichzeitige Erstellung topografischer, elektrochemischer, elektrischer und mechanischer Abbildungen mit lateraler Auflösung im Nano-Bereich.

Nanoskalige Abbildung dielektrischer und elektrischer Leitfähigkeit anhand von Raster-Mikrowellen-Impedanz-Mikroskopie (sMIM) - Anwendungshinweis 146 1,9 MB
Dieser Anwendungshinweis besteht aus einer Einführung in die Raster-Mikrowellen-Impedanz-Mikroskopie (sMIM) sowie aus Erläuterungen, wie sie mit den vielseitigen Rasterkraftmikroskopen aus der Dynamics-Reihe von Bruker kombiniert werden kann.

Bestandsaufnahme, Aussondierung, Umsetzung in die Tat: High-Speed-Rasterkraftmikroskopie - Anwendungshinweis 134 6,2 MB
Das Enwicklungsteam des Dimension FastScan von Bruker hat mit verschiedenen Experten in der Rasterkraftmikroskopie zusammengearbeitet, um ein Rasterkraftmikroskop zu konstruieren, das idealerweise hohe Bildauflösung mit schneller Bilderstellung vereint.

Einführung in die AFM-Technologien ScanAsyst und PeakForce Tapping von Bruker - Anwendungshinweis 133 4,9 MB
PeakForce Tapping und ScanAsyst sind zwei bildgebende Verfahren für die Rasterkraftmikroskope von Bruker. In diesem Anwendungshinweis werden die diesen Verfahren zugrundeliegenden physikalischen Hintergründe erklärt. Außerdem wird PeakForce Tapping in das Gerüst der bereits existierenden Betriebsmodi eingeordnet und der Nutzen dieser neuen Modi anhand von Anwendungsbeispielen aufgezeigt.

Hilfsmaterial

• Weltweiter Service und Support - Broschüre 2,7 MB
Unser hochqualifiziertes Support-Team aus Ingenieuren, praxiserfahrenen Wissenschaftlern und fachspezifischen Experten unterstützt Sie mit Systemservice und Upgrades sowie anwendungstechnischem Support und Fortbildungsmaßnahmen in verschiedenen Disziplinen bei der Optimierung Ihrer Produktivität.

Publikationen & Videos

Produkttour
FastScan. In diesem Interview wird auch die Funktionsweise des Apparats demonstriert.
Mit freundlicher Genehmigung von www.physicsworld.com