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DataCubes webslider 2019.051

Weiterführende Literatur

Broschüren & Datenblätter

• Dimension XR Rastersondenmikroskope - Broschüre 2,5 MB
Extreme Forschungssysteme für Nanomechanik, Nanoelektronik und Nanelektrochemie

• PeakForce Tapping - Broschüre 2,7 MB

Brukers exklusives PeakForce Tapping® ist der bedeutendste wissenschaftliche Durchbruch in der Rasterkraftmikroskop-Technologie (AFM) seit der Einführung von TappingMode™. Es bietet eine beispiellose hochauflösende Bildgebung, erweitert AFM-Messungen auf einen Bereich von Proben, auf den zuvor noch nicht zugegriffen werden konnte, und ermöglicht als einziges die gleichzeitige Zuordnung von Eigenschaften im Nano-Bereich.

PeakForce SECM - Broschüre 1,64 MB

Der exklusive PeakForce SECM™-Modus von Bruker ist die weltweit erste kommerzielle Komplettlösung für AFM-basierte elektrochemische Rastermikroskopie (SECM). Mit einer räumlichen Auflösung von weniger als 100 nm ermöglicht PeakForce SECM™ die gleichzeitige Erfassung von topografischen, elektrochemischen, elektrischen und mechanischen Karten mit einer lateralen Auflösung im Nano-Bereich.

Anwendungshinweise

Hyperspektrale Kartierung mit AFM DataCube Nanoelectrical Modes durchführen- AN152 5,4 MB

DCUBE-Modi ermöglichen die gleichzeitige Erfassung von elektrischen und mechanischen Eigenschaften im Nanometerbereich in Datenwürfeln mit hoher Dichte. Für Materialwissenschaftler und -ingenieure überwindet dies langjährige Effizienz- und Charakterisierungsbarrieren.

Verbesserung der Genauigkeit nanomechanischer Messungen mit kraftkurvenbasierten AFM-Techniken – Anwendungshinweis 149 2,8 MB

Dieser Anwendungshinweis erläutert die Entwicklung und Implementierung mehrerer neuer Funktionen, die die Flexibilität, Genauigkeit und Produktivität von Rasterkraftmikroskopen (AFMs) bei der Messung wichtiger Materialeigenschaften wie E-Modul und Haftung verbessern.

Quantitative Messungen elastischer und viskoelastischer Eigenschaften mit FASTForce Volume CR - Anwendungshinweis 148 3,3 MB

Durch Kontaktresonanz werden sowohl elastische als auch viskoelastische Eigenschaften wie Speichermodul, Verlustmodul und -faktor verschiedener Materialien (von weichen Polymeren bis hin zu Metallen) erfasst. FASTForce Volume CR verbindet die Bilderfassung durch FASTForce Volume mit der Kontaktresonanzmethode und verfügt so über 15 verschiedene Kanäle mechanischer Daten wie Adhäsion ohne Messspitzenabnutzung oder Probenbeschädigung.

• Quantitative Zuordnung der mechanischen Eigenschaften im Nano-Bereich mit PeakForce QNM - Anwendungshinweis 128 1,3 MB

Dieser Anwendungshinweis erläutert die Prinzipien und Vorteile des Darstellungsmodus von PeakForce QNM.