DimensionIconXR webslider 2018.134
DataCubes webslider 2019.051

Drei verschiedene XR-Konfigurationen für FastScan- und Icon-AFM-Pakete und optimierte erweiterte Forschungsfunktionen:

XR Nanomechanics

IPMMA square adhesion image with scale bar
  • Stellt eine Reihe von Modi zur umfassenden Erkennung kleinster Strukturen mit einer räumlichen Auflösung bis hin zu submolekularen Einheiten von Polymerketten bereit
  • Ermöglicht die korrelative Charakterisierung der Nanomechanik für Bulk-DMA- und Nanoidentationsmethoden mit dem NEUEN AFM-nDMA-Modus 
  • Führt eine quantifizierbare Charakterisierung im Nano-Bereich durch, die von weichen klebrigen Hydrogelen und Verbundwerkstoffen bis zu steifen Metallen und Keramiken reicht

XR Nanoelectrical

PFTUNA P3HT 3um
  • Umfasst das breiteste Spektrum elektrischer AFM-Techniken in einem einzigen System
  • Stellt elektrische Spektren in jedem Pixel bereit, einhergehend mit den Messungen der mechanischen Eigenschaften mit den NEUEN DataCube-Modi
  • Liefert bisher unerreichbare Informationen aus einer einzigen Messung

XR NanoEC

Slide 3 cav mask 1 0823 2 3D 8 4
  • Ermöglicht robuste AFM-basierte elektrochemische Rastermikroskopie (AFM-SECM) und elektrochemische Rasterkraftmikroskopie (EC-AFM)
  • Erfasst elektrochemische Informationen mit einer räumlichen Auflösung von <100 nm
  • Führt simultanes elektrochemisches, elektrisches und mechanisches Mapping in Lösungen durch
B087 Dimension XR AFM Microscopes 2018.123v8