software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

LEPTOS G

LEPTOS G dient zur Auswertung von Daten aus der Kleinwinkelstreuung unter streifendem Einfall, welche an Proben gemessen wurden, die an der Unterseite oder an der Oberfläche Nanopartikel enthalten. Dabei kann es sich beispielsweise um Halbleiter-Quantenpunkte und -inseln an der Unter- oder Oberseite, poröse Materialien oder, verdichtete Pulver handeln, die in Polymer-Nanopartikel eingebettet sind. Die Lizenz für das G-Modul enthält auch das R-Modul für Röntgenreflektivität. LEPTOS G:

  • liefert folgende Informationen über Nanopartikel: Form, Größe, Oberflächen-/Schüttdichte, Korrelationszeit und Länge.
  • ist in der Lage, Probenmodellsimulationen mithilfe eines robusten Optimierungsalgorithmus automatisch an integrierte 1D- oder 2D-Messdaten anzupassen.
  • besitzt zahlreiche Kostenfunktionen für das Daten-Fitting
  • beinhaltet mehrere physikalische Modelle für die Korrelationsart zwischen Partikeln (Zhu, Hartkugel) und die Parameterverteilung (uniform, Lorentz, Gauß).
  • bietet Zugriff auf die mit den anderen LEPTOS-Modulen gemeinsame umfassende, erweiterbare Materialdatenbank mit amorphen und kristallinen Materialien
  • ermöglicht die Berechnung und Anpassung des Hintergrund- und Skalierungsfaktors zwischen Simulations- und Versuchsdaten
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