software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

LEPTOS S

LEPTOS S ist ein innovatives, leistungsstarkes und umfassendes Modul zur Analyse der Resteigenspannung mit 0D-, 1D- oder 2D-Detektoren unter Anwendung von klassischen sin2ψ- und erweiterten XRD2 -Verfahren. Das Modul ist vollständig in die LEPTOS-Suite integriert und beinhaltet alle Funktionen des Gesamtpakets.

LEPTOS S Software, XRD
Residual stress gradients can be calculated from multiple {hkl} measured at different grazing-incident angles. The absorption and refraction of X-rays, as well as the coating thickness, are taken into account for the calculation.

 

 

Datenauswertung

  • Fünf Methoden zur Ermittlung einer Peakposition: Gravity, Sliding Gravity, Parabolic, Pseudo-Voigt und Pearson VII
  • Umfassende Datenkorrekturfunktionen: Absorption, Hintergrundsubtraktion, Polarisationskorrektur, Glättung und Kα2-Separation
  • Erweiterbare Materialdatenbank mit elastischen Materialeigenschaften und Röntgen-elastischen Konstanten (XEC).
  • Berechnung des Spannungstensors der Probe und Lieferung der wichtigsten Koordinaten für Normal-, Normal- & Schub-, Biaxial-, Biaxial- & Schub- und Triaxial-Spannungsmodelle.
  • Vergleich von XRD2- und sin2ψ-Methoden mit einem Integrationstool
  • Flächenabbildung; automatische Datenauswertung über Skriptschnittstelle

Theorie

  • Klassische und erweiterte sin2ψ- und XRD2- Methoden
  • Auswertung der Resteigenspannung von multiplen {hkl}
  • Spannungs-/Deformationsgradient in dünnen polykristallinen Schichten

Datenausgabe

  • Anzeige der εφψ- (sin2ψ), dφψ- (sin2ψ) und 2φψ- (sin2ψ) Regressionen
  • Winkelorientierungsmatrix zwischen Haupt- und Probenkoordinatensystem
  • Lamésche Kurven
  • Abspeichern der Ergebnisse in XML-Projektdateien
  • Mehrere Berichtoptionen und benutzerdefinierter Export