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X-ray Diffraction (XRD) Webinar

The Key Point of Rietveld Analysis (Second Part) From the Basic to Advance Application for Parameter Control

リートベルト解析は、プロファイルフィッティング法の一つで、多結晶体(粉末)の状態で、格子定数,結晶子サイズ・歪,原子座標およびサイト固溶率などの結晶構造が精密化できます。歴史的には超電導材料の研究が盛んであった1990年代後半から、様々な研究者達によって精力的にアルゴリズム等の開発が行われ発展してきました。それから20年近くが経過し、現在では、工業の品質管理などにも使用されるほど波及しています。しかしながら、リートベルト解析を正しく学ぶ場は限られている上に、教科書を読んでも専門性が強すぎて、なかなか理解できないという声も少なくありません。本WEBINARでは、リートベルト解析の実際のパラメーター制御の基礎から応用まで(プリファイル関数,選択配向関数,結晶子サイズの異方性,仮想原子の作成など)の実例をご紹介いたします。

This webinar is held in Japanese.