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▶ オンデマンドで視聴 | 50分
オンデマンド セッション: 電気特性 中級コース 半導体解析の基礎 とコツ ~ SCM, SSRM, sMIMを用いた表面・界面の電気特性評価 ~
SCM, SSRM, sMIM を用いた半導体解析に関するウェビナーを企画しました。今回はブルカーアプリケーションエンジニアよりAFMを用いた電気測定の基礎や各種解析結果、更に最新のデータキューブ測定例についてご紹介し、最後に試料作製方法を簡単に紹介します。
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特集商品と技術
マテリアルAFM
ブルカーの材料研究用原子間力顕微鏡 マテリアルAFMは、独自のPeakForce Tapping®技術を搭載しており、新しいナノメカニクス、ナノ電気、ナノ電気化学の研究を進めるのに貢献。1日に3本の査読付き論文が発表されています。
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