原子間力顕微鏡の原理と形状測定 初級コース コンタクト・タッピングモード
AFMの復習をしたい方から、上司や同僚、新入生等、関連する周囲の方にAFMとは何かををわかりやすく紹介する必要がある方迄を主な対象として、AFMとは何かから、装置構成、測定の前準備、注意点、コンタクトモードとタッピングモードの原理と測定例をわかりやすく解説します。（約30分）2023年4月20日
ウェビナー要約
目に見えない物を拡大して可視化する顕微鏡技術の一種として、原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscopy: AFM）は発展してきました。最表面の微小な凹凸形状をナノレベルで拡大表示するのみでなく、導電率、静電気力、表面電位、静電容量等様々な物性値も同時に検出、表示する事が可能で、大気、真空、液中等多様な環境下で用いることが可能です。
AFMの操作にはカンチレバーという片持ち梁形状の部品を用います。先端には数～十数ナノメートルに尖らせた探針が付属します。探針が表面をどのようになぞるかによって、色々な測定方法があります。今回のウェビナーでは代表的な測定方法としてコンタクトモードとタッピングモードを紹介します。
AFMの復習をしたい方から、上司や同僚、新入生等、関連する周囲の方にAFMとは何かををわかりやすく紹介する必要がある方迄を主な対象として、AFMとは何かから、装置構成、測定の前準備、注意点、コンタクトモードとタッピングモードの原理と測定例をわかりやすく解説します。 2023年4月20日 (約30分)
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