ppm 수준의 극미량 분석을 위한 SEM-XRF 분석
On-Demand Webinar: 32 minutes
7월 24일 (목) Bruker Korea에서 µ-XRF on SEM 온라인 웨비나를 진행합니다. 브루커 코리아 유저 및 고객들의 많은 관심 부탁드립니다.
- 일시 : 2025년 07월 24일 (목)
- 주제 : ppm 수준의 극미량 분석을 위한 SEM-XRF 분석
- 대상 : Bruker 유저 및 관심고객
- 장소 : 온라인 세미나 (접속링크는 행사 1-2일 전 이메일 안내 예정)
- 참가비 : 무료
- 문의 : 02-6285-2930 / info.baxs.kr@bruker.com
Key Points
- plus ppm 단위의 극미량 정량 분석을 한다?
- plus 시료 내부위의 두께 측정이 필요하다?
- plus 빠른 대면적 분석이 필요하다?
- ✓ μ-XRF 이론
- ✓ SEM-XRF를 이용한 Application
- ppm level의 정량 분석
- 비파괴 방식으로 내부 형상 Mapping 및 Thickness 측정
- 브루커 Stage를 이용한 High speed mapping
비파괴 방식을 이용한Chip 내부의 Au wire 분석
PCB의 대면적 원소 Mapping
NIST 611 표준시료(20개의 500ppm)에 대한 EDS, μ-XRF 스펙트럼 비교
Speakers
최성지 책임/교육 지원
EDS, EBSD, FlatQUAD, Micro-XRF, WDS
브루커코리아(주) AXS 사업부
Watch this Webinar On-Demand
Please enter your details below to gain on-demand access to this webinar.