DIFRACCIÓN de rayos X (RDX)

D8 ADVANCE Plus

Tomar el D8 ADVANCE más allá del polvo.
HerostageD8ADVANCE

Lo más destacado

El D8 ADVANCE Plus: Investigación de Materiales Multipropósustes

>1x1012 fotones/s
Capacidad de tasa de recuento del EIGER2 R 500K
El EIGER2 R 500K posee el mayor rango dinámico que permite mediciones libres de absorbentes con señal a ruido consistente.
3x2
Twin y TRIO óptica
Conmutación totalmente automática entre hasta 6 geometrías de haz diferentes
4
Ejes centéntricos
El Compact Cradle Plus transforma el D8 ADVANCE de un difractómetro de 2 a 4 ejes con la adición de Phi y Psi.
Garantía de alineación única de Bruker
Aprende más

D8 ADVANCE Plus - máxima flexibilidad se une a una facilidad de uso sin igual

El D8 ADVANCE Plus es una variante D8 ADVANCE que representa la plataforma de rayos X definitiva para laboratorios multiusos y multiusuario. El sistema se adapta perfectamente a las necesidades de todos los tipos de muestras, incluidos polvos, materiales a granel, fibras, láminas y películas delgadas (amorfos, policristalinos y epitaxiales):

  • difracción de polvo de rayos X tradicional (RDX)
  • Análisis de la función de distribución de pares (PDF)
  • Dispersión de rayos X de ángulo pequeño y ancho (SAXS, WAXS)
  • XRR (reflectometría) y HRXRD (curvas de balanceo, mapeo de espacio recíproco)
    ambiente y condiciones no ambientales.

La verdadera belleza del sistema es su capacidad para cambiar entre hasta 6 geometrías de haz diferentes, desde enfocar la geometría Bragg-Brentano para polvos hasta la geometría de haz paralelo de alta resolución K-1 para películas delgadas epitaxiales y todo lo demás. Totalmente controlado por software, con solo pulsar un botón.

Sea cual sea el tipo de muestra y la aplicación, y no importa si usted es un usuario principiante o experto: el D8 ADVANCE Plus establece un nuevo punto de referencia en calidad de datos gracias a su flexibilidad sin igual y fácil de usar.

Características

Características principales

Características de D8 ADVANCE Plus

Trio óptica

La óptica patentada TRIO simplifica el uso del D8 ADVANCE, permitiendo la mayor variedad de aplicaciones y tipos de muestras. Con la comodidad del usuario en mente, el sistema cuenta con conmutación motorizada automática entre hasta 6 geometrías de haz diferentes. Sin intervención manual del usuario, el sistema es capaz de cambiar entre tres trayectorias de haz:

  • Enfoque Bragg-Brentano para polvos
  • Haz paralelo de alta intensidad K-1,2 para capilares, GID y XRR
  • Geometría de haz paralelo de alta resolución K-1 para películas delgadas epitaxiales

Es perfectamente adecuado para todos los tipos de muestras, incluyendo polvo, volumen, fibra, lámina y película delgada (amorfo, policristalilina y epitaxial) en condiciones ambientales o no ambientales.

Características de D8 ADVANCE Plus

Etapas de Investigación de Materiales

Compact UMC y Compact Cradle Plus amplían la capacidad de manipulación de muestras del D8 ADVANCE Plus, lo que permite un movimiento de precisión complejo de la muestra. La etapa Comact UMC cuenta con movimiento motorizado de 25 mm en X, 70 mm en Y y 52 mm en Z con capacidad de muestra de 2 kg para el análisis de muestras grandes a granel o múltiples muestras más pequeñas. El Compact Cradle Plus incluye rotación Phi ilimitada e inclinación Psi de -5o a 95o para análisis de película delgada de tensión, textura y epitaxial. Además, el Compact Cradle Plus cuenta con una alimentación de utilidad de vacío que permite que las muestras se coloquen en su lugar con un pequeño soporte de muestra de película delgada o una gran mesa manual XY. Ambas etapas se adaptan a las etapas de temperatura del domo para el análisis no ambiental. También utilizan el DIFFRAC. Sistema de montaje de bayoneta de etapa DAVINCI para facilitar el intercambio de la etapa de muestra.

Características de D8 ADVANCE Plus

Detectores EIGER2 R

La funcionalidad multimodo (0D-1D-2D, instantáneas y modos de escaneo) permite que los detectores EIGER2 R cubra una amplia gama de métodos de medición que van desde aplicaciones de investigación de polvo hasta materiales. No es el conector típico de todas las operaciones, el EIGER2 es un maestro de todas las aplicaciones. Con un rango dinámico que permite mediciones libres de absorbentes, un gran tamaño 1D para mediciones de polvo ultrarrápidas y mapas espaciales recíprocos rápidos y más de 500k píxeles para una gran cobertura bidimensional, el EIGER2 establece un nuevo estándar para los detectores multimodo. El EIGER2 combina la tecnología de detector de línea de haz de DECTRIS Ltd. con la integración de software y hardware de BRUKER en una solución fácil de usar.

Aplicaciones

Un difractómetro - Todas las aplicaciones

Aplicaciones D8 ADVANCE Plus

Difracción de polvo

Las técnicas de difracción de polvo de rayos X (XRPD) se encuentran entre las herramientas más importantes para la caracterización de materiales. Gran parte de la información incrustada en un patrón de polvo se deriva directamente de la disposición atómica de las fases presentes. El D8 ADVANCE y el DIFFRAC. El software SUITE permite la ejecución simple de métodos XRPD comunes:

  • Identificación de fases cristalinas y amorfas y determinación de la pureza de los especímenes
  • Análisis cuantitativo de fases cristalinas y amorfas en mezclas multifásicas
  • Análisis de microestructuras (tamaño de cristalita, microformación, trastorno...)
  • Tensión residual a granel resultante del tratamiento térmico o mecanizado en componentes fabricados
  • Análisis de textura (orientación preferida)
  • Indexación, determinación de la estructura cristalina ab-initio y refinamiento de la estructura cristalina
Aplicaciones D8 ADVANCE Plus

Análisis de textura y estrés residual

Las mediciones de textura y estrés residual se recogen rutinariamente en muestras de metales industriales donde los materiales se llevan al límite. Al aliviar la tensión de tracción o inducir la tensión de compresión en la superficie de una muestra, su vida útil puede ampliarse en gran medida. Esto se puede hacer a través de tratamientos térmicos o procesos físicos como el peening. La orientación de los cristalitos que componen una muestra a granel dicta la forma en que las grietas se propagarán. Al formar texturas específicas en un material, sus propiedades se pueden aumentar drásticamente. Ambas técnicas también son importantes para optimizar el método de fabricación de vanguardia, como la fabricación aditiva.

Aplicaciones D8 ADVANCE Plus

Películas y recubrimientos finos

El análisis de películas y revestimientos finos se basa en los mismos principios de XRPD, pero con más acondicionamiento de haz y control angular. Los ejemplos típicos incluyen, pero no se limitan a, identificación de fase, calidad cristalina, tensión residual, análisis de textura, determinación de espesor y composición frente al análisis de deformación unitaria. El análisis de películas delgadas y recubrimientos se centra en las propiedades de los materiales en capas con espesor de nm a m, que van desde recubrimientos amorfos y policristalinos hasta películas cultivadas epitaxialmente. El D8 ADVANCE y el DIFFRAC. El software SUITE permite análisis de alta calidad de películas delgadas, incluyendo:

  • Difracción de incidencia de pastoreo
  • Reflectometría de rayos X
  • Difracción de rayos X de alta resolución
  • Mapeo de espacio recíproco

Especificaciones

D8 ADVANCE Plus Especificaciones

Característica

Especificación

Ventaja

Trio óptica

Interruptor pulsador de software entre:

Hendidura de divergencia motorizada (Bragg-Brentano)

Alta Intensidad Ka1,2 Rayo Paralelo

Viga paralela Ka1 de alta resolución

Patentes: US10429326, US6665372, US7983389

Cambio motorizado totalmente automático entre hasta 6 geometrías de haz diferentes sin intervención manual del usuario

Perfectamente adecuado para todo tipo de muestras, incluyendo polvos, materiales a granel, fibras, láminas y películas delgadas (amorfo, policristalino y epitaxial)

LYNXEYE XE-T

Resolución de energía: < 380 eV a 8 KeV

Modos de detección: 0D, 1D, 2D

Longitudes de onda: Cr, Co, Cu, Mo y Ag

Patentes: EP1647840, EP1510811, US20200033275

No hay necesidad de filtros K y monocromadores secundarios

Filtrado 100% de Fe-fluorescense con radiación Cu

Hasta 450 veces más rápido que los sistemas de detectores convencionales

BRAGG2D: Recopile datos 2D con un haz de línea primario divergente

Garantía única del detector: No hay canales defectuosos en el momento de la entrega

EIGER2 R

El detector multimodo de última generación (0D/1D/2D) basado en la tecnología Hybrid Photon Counting, desarrollado por Dectris Ltd.

Integración perfecta de la detección 0D, 1D y 2D en modos de escaneo pasos, continuos y avanzados

Rotación ergonómica y sin alineación del detector para optimizar la cobertura angular de γ o 2o

La óptica de haz difractada panorámica y sin herramientas utilizando el campo de visión completo del detector

Posicionamiento del detector continuamente variable para equilibrar la cobertura angular y la resolución

Giro. Tubo

Interruptor fácil, rápido y sin alineación entre aplicaciones de enfoque de línea y punto

Sin desconexión de cables eléctricos o mangueras de agua ni desmontaje de tubos

Davinci. DESIGN: Detección y configuración totalmente automáticas de la orientación del enfoque

Etapa compacta del UMC

X motorizado: 25 mm

Y motorizado: 70 mm

Z motorizado: 52 mm

Capacidad: 2 kg

Posicionamiento preciso de la región de interés de una gran muestra en la viga

Montaje de múltiples muestras para mediciones automáticas

Cuna compacta Plus

Phi motorizado: Ilimitado

Psis motorizado: de -5o a 95o

Alimentación de utilidad de vacío para montaje de muestras sin preocupaciones

La difracción completa de 4 ejes permite la textura, la tensión residual y las mediciones de película delgada

D8 Goniómetro

Goniómetro de dos círculos con motores paso a paso independientes y encoders ópticos

Precisión y precisión sin igual, como la garantía de alineación única de Bruker

Mecanismo / engranajes de accionamiento sin mantenimiento absolutamente libre con lubricación de por vida

No ambiental

Temperatute: Desde -4K hasta 2500K

Comprobación: 10-⁴ mbar hasta 100 bar

Humedad: 5% a 95%

Investigaciones en condiciones ambientales y no ambientales

Fácilmente intercambiadas por DIFFRAC. Davinci

Accesorios

XRD Components

XRD Components

Bruker XRD solutions consist of high performance components configured to meet the analytical requirements. The modular design is the key to configure the best instrumentation.

All categories of components are part of Bruker’s key competence, developed and manufactured by Bruker AXS, or in close cooperation with third party vendors.

Bruker XRD components are available for upgrading the installed X-ray systems for improving their performance.

Software

PLAN.MEASURE.ANALYZE with DIFFRAC.SUITE

DIFFRAC.SUITE Software

DIFFRAC.SUITE™ offers a wide range of software modules for easy X-ray powder diffraction data acquisition and evaluation. Based on Microsoft's .NET technology, DIFFRAC.SUITE offers all the advantages of modern software technology for stability, maximum ease of use and networking.

The fully customizable user-interface is characterized by a plug-in framework, providing a common look, feel and operation. All measurement and evaluation software modules can be operated as individual applications or integrated together in DIFFRAC.SUITE's plug-in framework. Unlimited networking allows access and control of any number of D2 PHASER, D8 ADVANCE, D8 DISCOVER and D8 ENDEAVOR diffractometers within a customer's network.

Measurement Software:
WIZARD – Method planning
COMMANDER – Method execution and direct measurements
TOOLS – Service Interface
Powder Diffraction Software:
DQUANT – Quantitative phase analysis
EVA – Phase identification and quantitative phase analysis
TOPAS – Profile analysis, quantitative analysis, structure analysis

Materials Research Software:
SAXS – Small Angle X-ray Scattering software
XRR – Comprehensive X-ray reflectometry analysis
TEXTURE – All-round Texture analysis meets ease-of-use
LEPTOS – Thin film analysis/Residual stress investigation

Webinars

Soporte

Servicio y soporte

Proporcionamos:

  • Soporte técnico de asistencia técnica de profesionales altamente cualificados en solución de problemas para aislar y resolver problemas de hardware y software
  • Servicio de instrumentos remotos basado en web para el diagnóstico de servicio y soporte de aplicaciones
  • Soporte de realidad combinada – un ingeniero virtual a su lado (vídeo)
  • Mantenimiento planificado, de acuerdo a sus necesidades
  • Servicio de reparación y mantenimiento in situ del cliente
  • La disponibilidad de piezas de repuesto normalmente durante la noche o dentro de unos pocos días laborables en todo el mundo
  • Servicios de cumplimiento para la calificación de la instalación, calificación operativa / verificación del rendimiento
  • Planificación y reubicación del sitio
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