D8 ADVANCE Plus
Le D8 ADVANCE Plus: Recherche polyvalente sur les matériaux
D8 ADVANCE Plus - La flexibilité maximale associée à une facilité d’utilisation inégalée
Le D8 ADVANCE Plus est une variante du D8 ADVANCE représentant la plate-forme de rayons X ultime pour les laboratoires polyvalents et multi-utilisateurs. Le système correspond parfaitement aux besoins de tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les films et les couches minces (amorphes, polycristallines et épitaxiées):
- Diffraction traditionnelle de rayon X sur poudre (DRX)
- Analyse de la fonction de distribution de paires (PDF)
- Diffusion des rayons X aux petits et grands angles (SAXS, WAXS)
- XRR (réflectométrie) et HRXRD (rocking curve, cartographie du réseau réciproque) dans des conditions ambiantes et non ambiantes.
La vraie beauté du système est sa capacité à basculer entre jusqu’à 6 géométries de faisceau différents, de la géométrie Bragg-Brentano pour les poudres à la géométrie faisceau parallèle monochromatique haute résolution pour les films minces épitaxiés. Entièrement contrôlé par logiciel, il vous suffit d´un clic.
Quel que soit le type d’échantillon et l’application, que vous soyez novice ou expert, le D8 ADVANCE Plus définit une nouvelle référence pour la qualité de données grâce à sa flexibilité inégalée et sa facilité d’utilisation.
Galerie des marchés
Métrologie des films minces
Produits pharmaceutiques
Stockage d’énergie/Batteries
Caractéristiques clés
Optique TRIO
L’optique brevetée TRIO simplifie l’utilisation du D8 ADVANCE, permettant la plus grande variété d’applications et de types d’échantillons. Avec la commodité de l’utilisateur à l’esprit, le système dispose d´une commutation automatique motorisée entre jusqu’à 6 géométries de faisceau différents. Sans intervention manuelle de l’utilisateur, le système est capable de basculer entre trois chemins optiques :
- Géométrie focalisante Bragg-Brentano pour les poudres
- Faisceau parallèle de haute intensité Kα1,2 pour capillaire, GID et XRR
- Géométrie Kα1 à faisceau parallèle haute résolution pour les couches minces épitaxiées
Il convient parfaitement à tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les revêtements et les couches minces (amorphes, polycristallinees et épitaxiées) dans des conditions ambiantes ou non ambiantes.
Les platines échantillons de la recherche sur les matériaux
Le Compact UMC et le Compact Cradle Plus étendent la capacité de traitement des échantillons du D8 ADVANCE Plus, permettant un mouvement complexe et précis de l'échantillon. La platine Compact UMC dispose d'un mouvement motorisé de 25 mm en X, 70 mm en Y et 52 mm en Z avec une capacité de charge de 2 kg pour l'analyse de grands échantillons massifs ou de plusieurs échantillons plus petits. Le Compact Cradle Plus comprend une rotation Phi illimitée et une inclinaison Psi de -5 ° à 95 ° pour l'analyse des contraintes, de la texture et des couches minces épitaxiées. De plus, le Compact Cradle Plus dispose d'un conduit pouvant être relié à une pompe à vide permettant de maintenir par succion les échantillons en place sur le porte-échantillon dédié couches minces ou sur la grande table XY manuelle. Les deux platines peuvent accueillir les chambres en température de type dôme pour une analyse en conditions non ambiantes. Elles utilisent également le système de montage à baïonnette DIFFRAC.DAVINCI pour un changement facile des platines.
Détecteurs EIGER2 R
La fonctionnalité multimode (0D-1D-2D, mode instantané et balayage) permet à les EIGER2 R détecteurs de couvrir un large éventail de méthodes de mesure allant de la poudre aux applications de recherche sur les matériaux. Véritable touch à tout , l’EIGER2 est un maître de toutes les applications. Avec une plage dynamique qui permet des mesures sans atténuateur, une grande ouverture 2Ɵ pour les mesures de poudre et les cartographies du réseau réciproque ultra rapides et plus de 500k pixels pour une grande couverture bidimensionnelle, l’EIGER2 établit une nouvelle référence pour les détecteurs multimodes. L’EIGER2 combine la technologie de détecteur pour graands instruments de DECTRIS Ltd. avec l’intégration logicielle et matérielle de BRUKER en une solution conviviale facile à utiliser.
Galerie d’applications
DAVINCI.DESIGN
Dynamic Beam OptimizationTM (DBO)
Optique TRIO
Détecteur EIGER2 R
Un diffractomètre - Toutes les applications
Diffraction de poudre
Les techniques de diffraction des rayons X (DRX) des poudres sont parmi les outils les plus importants pour la caractérisation des matériaux. Une grande partie des informations contenues dans un modèle de poudre est dérivée directement de l’arrangement atomique des phases présentes. Le D8 ADVANCE et le progiciel DIFFRAC.SUITE permettent l’exécution aisée des taches classiques de la DRX :
- Identification des phases cristallines et amorphes et détermination de la pureté de l’échantillon
- Analyse quantitative des phases cristallines et amorphes dans les mélanges multiphasés
- Analyse microstructurale (taille de cristallite, micro-contrainte, désordre...)
- Contrainte résiduelle de massifs résultant du traitement thermique ou de l’usinage des composants manufacturés
- Analyse de la texture (orientation préférentielle)
- Indexation, détermination ab-initio et raffinement de la structure cristalline
Analyse de la contrainte résiduelle et de la texture
Les mesures de contrainte résiduelle et de texture sont régulièrement réalisées sur des échantillons de métaux industriels où les matériaux sont poussés à leurs limites. En reduisant la contrainte de traction ou en induisant une contrainte de compression à la surface d'un échantillon, sa durée de vie fonctionnelle peut être considérablement prolongée. Cela peut être fait par des traitements thermiques ou des processus physiques tels que le grenaillage. L'orientation des cristallites qui composent un échantillon massif dicte la manière dont les fissures se propageront. En formant des textures spécifiques dans un matériau, ses propriétés peuvent être considérablement améliorées. Ces deux techniques sont également importantes pour optimiser les méthodes de fabrication de pointe telles que la fabrication additive (impression 3D).
Revêtements et couches minces
L’analyse des couches minces et des revêtements est basée sur les mêmes principes de DRX, mais avec un conditionnement du faisceau supplémentaire et un contrôle angulaire. Les exemples typiques incluent, sans s’y limiter, l’identification des phases, la qualité cristalline, la contrainte résiduelle, l’analyse de texture, la détermination de l’épaisseur et de la composition par rapport à l’analyse des contraintes. L’analyse des couches minces et des revêtements se concentre sur les propriétés des matériaux en couches d’épaisseur du nm au μm, allant des revêtements amorphes et polycristallins aux films épitaxiés. Le D8 ADVANCE et le progiciel DIFFRAC.SUITE permettent des analyses de haute qualité des films minces, notamment :
- La diffraction en incidence rasante (GID)
- La réflectométrie des rayons X (XRR)
- La diffraction des rayons X haute résolution (HRXRD)
- La cartographie du réseau réciproque (RSM)
(U)SAXS, (U)WAXS et GISAXS
L'analyse des données de diffusion des rayons X acquises aux grands, petits et ultra-petits angles permet de déterminer les structures, les formes et les distributions à l'échelle nanométrique. Les applications comprennent la caractérisation des systèmes de nanoparticules, des colloïdes, des surfactants, des solutions de protéines, des polymères, des cristaux liquides, des nanocomposites et des matériaux poreux.
La diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS) utilise des données collectées entre 0,1 et 5° 2θ, fournissant des informations sur les caractéristiques structurelles jusqu'à environ 80 nm, et est complétée par la diffusion des rayons X aux grands angles (WAXS), qui fournit des informations sur l'arrangement périodique des structures. Pour étudier des structures plus grandes, jusqu'à l'ordre du micron, le trajet du faisceau à haute résolution fourni par l'optique TRIO et le module USAXS ajoute au D8 ADVANCE des capacités de diffusion des rayons X aux ultra petits angles (USAXS).
Pour l'étude des structures nanométriques sur les couches minces, la platine GIWAXS dispose d'un collimateur à lame intégrée et d'un arrêt de faisceau pour une superbe suppression du bruit de fond, cruciale pour l'observation des signaux faibles typiques des applications GISAXS et GIWAXS. La conception de la platine permet de réduire au minimum la distance entre l'échantillon et le détecteur afin de maximiser la couverture angulaire. Pour les mesures GISAXS, l'EIGER2 R peut également être placé loin de l'échantillon pour augmenter la résolution.
Galerie d’applications
Identification des phases
Quantification des phases
DRX non-ambiant
Analyse de la texture
Analyse de la contrainte résiduelle
Réflectométrie des rayons X (XRR)
Diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS)
Spécifications D8 ADVANCE Plus
Propriété |
Spécification |
Avantage |
Optique TRIO |
Sélection en un clic dans le logiciel entre : Fente de divergence motorisée (Bragg-Brentano) Faisceau parallèle Ka1,2 haute intensité Faisceau parallèle Ka1 haute résolution Brevets: US10429326, US6665372, US7983389 |
Commutation entièrement automatique et motorisée entre jusqu’à 6 géométries de faisceau différents sans aucune intervention manuelle de l’utilisateur Parfaitement adapté à tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les revêtements et les couches minces (amorphes, polycristallines et épitaxiques) |
LYNXEYE XE-T |
Résolution énergétique : < 380 eV @ 8 KeV Modes de détection : 0D,1D, 2D Longueurs d’onde: Cr, Co, Cu, Mo et Ag Brevets: EP1647840, EP1510811, US20200033275 |
Pas besoin de filtre Kß ou de monochromateur secondaire Filtrage à 100% de la fluorescence du fer avec le rayonnement Cu Jusqu’à 450 fois plus rapide que les systèmes de détection conventionnels BRAGG2D : Collecter des données 2D avec un faisceau primaire divergent issu d´un foyer linéaire Garantie unique du détecteur : Pas de canaux défectueux à la livraison |
EIGER2 R |
Le détecteur multi-mode (0D/1D/2D) de dernière génération basé sur la technologie "hybrid photon counting", développé par Dectris Ltd. |
Intégration transparente des données 0D, 1D et 2D collectées en mode pas, continu ou avancé Rotation ergonomique du détecteur sans alignement pour optimiser la couverture angulaire γ ou 2Θ Optiques panoramiques utilisant la totalité de la zone active du détecteur à monter (sans outils) dans le faisceau diffracté Positionnement variable et continu du détecteur sur le bras secondaire pour varier entre couverture angulaire et résolution |
TWIST.TUBE |
Commutation facile, rapide et sans alignement entre le foyer linéaire et le foyer ponctuel |
Pas de déconnexion des câbles électriques ou des tuyaux d’eau ou de démontage du tube DAVINCI.DESIGN : Détection et configuration entièrement automatiques de l’orientation du tube |
Compacte UMC |
X Motorisé : 25 mm Y Motorisé : 70 mm Z Motorisé: 52 mm Capacité: 2 kg |
Positionnement précis de la zone d’intérêt d’un échantillon dans le faisceau de RX Montage de plusieurs échantillons pour des mesures automatiques |
Compact Cradle Plus |
Phi motorisé: illimité Psi motorisé: -5° à 95° |
Traversée utilitaire sous vide pour un montage sans souci de l’échantillon La diffraction 4 axes permet les mesures de texture, le contrainte résiduelle et l´étude complète des couches minces |
Goniomètre du D8 |
Goniomètre à deux cercles avec moteurs pas à pas indépendants et encodeurs optiques |
Une précision et une justesse inégalées, comme stipulées dans la garantie l’alignement unique de Bruker Mécanisme d’entraînement sans entretien / engrenages avec lubrification à vie |
Non ambiant |
Température: Allant de ~-4K jusqu’à ~2500K Pression : 10-⁴ mbar jusqu’à 100 bars Humidité: 5% à 95% |
Mesures dans des conditions ambiantes et non ambiantes Platines échantillon facilement changées avec DIFFRAC.DAVINCI |
Composants pour la DRX
Les solutions Bruker XRD sont constituées de composants haute performance configurés pour répondre aux exigences analytiques.
La conception modulaire est la clé pour configurer le meilleur instrument.
Toutes les catégories de composants font partie des compétences clés de Bruker, développées et fabriquées par Bruker AXS, ou en étroite collaboration avec des fournisseurs tiers.
Les composants DRX Bruker sont disponibles pour mettre à niveau les systèmes de rayons X installés afin d'améliorer leurs performances.
PLANIFIER.MEASURER.ANALYSER avec DIFFRAC.SUITE
DIFFRAC.SUITE ™ propose une large gamme de modules logiciels pour une acquisition et une évaluation faciles des données de diffraction des rayons X sur poudre. Basé sur la technologie Microsoft.NET, DIFFRAC.SUITE offre tous les avantages de la technologie logicielle moderne pour la stabilité, la facilité d'utilisation maximale et la mise en réseau.
L'interface utilisateur entièrement personnalisable est caractérisée par un cadre d’onglets, offrant une apparence, une sensation et un fonctionnement communs. Tous les modules logiciels de mesure et d'évaluation peuvent être utilisés en tant qu'applications individuelles ou intégrés ensemble dans le cadre d’onglets de DIFFRAC.SUITE. Un réseau illimité permet l'accès et le contrôle de n'importe quel nombre de diffractomètres D2 PHASER, D8 ADVANCE, D8 DISCOVER et D8 ENDEAVOR au sein du réseau d'un client.
Logiciels de Mesure:
WIZARD – Création de méthodes
COMMANDER – Exécution de méthodes et mesure en direct
TOOLS – Interface de service
Logiciels de diffraction des poudres:
DQUANT – Analyse quantitative des phases
EVA – Identification des phases et analyse quantitative
TOPAS – Analyse de profile, analyse quantitative, analyse structurale
Logiciels de recherche de matériaux:
SAXS – Logiciel pour la diffusion aux petits angles
XRR – Analyse complète de réflectométrie
TEXTURE – L’analyse de texture devient facile
LEPTOS – Analyse de couche mince / Evaluation des contraintes résiduelles
Webinaires
Documents sur le D8 ADVANCE Plus
Brochures et dépliants
Service & Support
- Service d´assistance pour les problèmes techniques liés aux matériels, logiciels et applications à l'aide d'outils de service à distance avancés et basés sur le Web.
- Contrats des maintenance LabScape
- Assistance sur site, à la demande
- Qualification d'installation et de fonctionnement ainsi que vérification des performances
- Planification, relocalisation et consultation du site
- Remplacement de pièces de rechange, de consommables et formation en personne et en ligne
- Mises à jour logicielles, manuels et gestion de LabScape MSA (brukersupport.com)