XFlash 6-100
Las situaciones muy especiales requieren detectores muy especiales. El XFlash® 6-100 está hecho para tales situaciones, donde la señal limitada está disponible. Este es, por ejemplo, el caso cuando se analizan muestras muy sensibles o cuando se utiliza un SEM Cold-FEG. El área activa grande de 100 mm2 y la tapa de extremo estrecho proporcionan el máximo ángulo sólido y permiten adquirir espectros en tiempos cortos incluso en estas condiciones adversas. Al mismo tiempo, el XFlash® 6-100 tiene la misma capacidad de alta velocidad de recuento que los detectores más pequeños (hasta 1.500 kcps en la entrada), lo que lo convierte en un instrumento verdaderamente único para el análisis EDS.
En resumen, el XFlash® 6-100 ofrece las siguientes ventajas:
- Buena resolución de energía (129 eV a Mn K, 57 eV a C K y 67 eV en F K)
- Capacidad de carga de pulso extremadamente alta
- Buen elemento de luz y bajo rendimiento energético (rango de elementos Be - Am)
- Sin sistemas de refrigeración elaborados que generen vibraciones
- Inmediatamente disponible después del encendido
- Bajo costo de operación
- Funcionamiento sin mantenimiento
- Dimensiones pequeñas
- Bajo peso, incluyendo el dedo de la tecnología de línea delgada
Las áreas de aplicación sugeridas para el XFlash® 6-100 son:
- Sistemas EDS para SEM, microsonda, FIB-SEM (fuelles soldados disponibles como opción)
- Corriente de haz bajo y análisis de muestra sensible (SEM con emisor de campo frío)