XFlash 6-100

低电流应用的最大面积 SDD
XFlash 6-100 探测器

非常特殊的情况需要非常特殊的探测器。XFlash® 6-100 适用于信号有限的情况。例如,在分析非常敏感的样品或使用冷场发射 SEM 时。即使在这些不利条件下,100 mm2 有效面积和窄端盖提供最大的探测固体角,也可以在短时间内获取谱图数据。同时,XFlash® 6-100 具有与小型探测器相同的高计数速率功能(输入时高达 150万cps),因此成为 EDS 分析真正独特的仪器。

总结起来,XFlash® 6-100 具有以下优点:

  • 良好的能量分辨率(Mn Kα 为 129 eV,C Kα 为 57 eV,F Kα 为 67 eV)
  • 极高的脉冲负载能力
  • 出色的轻元素和低能端检测性能(Be - Am 元素范围)
  • 简单,无震动设计的冷却系统
  • 打开电源后立即可用
  • 低运行成本
  • 免维护操作
  • 小尺寸,包括细管径技术
  • 重量轻

XFlash® 6-100建议的应用领域包括:

  • 用于 SEM、电子探针、FIB-SEM 的 EDS 系统(焊接波纹管可作为选件提供)
  • 低束流和敏感样品分析(冷场发射的 SEM)