ZH
My Bruker
联系我们
产品与解决方案
应用
服务与支持
新闻和活动
关于我们
职业
请至少输入2个字符 (您当前输入的是1个字符) 。
Languages
Deutsch
English
Español
Français
Italiano
Polski
Português
Русский
中文
日本語
한국어
Bruker AXS - EMA
Contact us about our Electron Microscope Analyzers
For our products and solutions please get in touch with us.
Thank you
Your request was successfully sent.
电子显微分析仪
我们用于扫描电子显微镜(SEM)的能谱(EDS)、背散射电子衍射(EBSD)和微X射线荧光(Micro-XRF)系统,可在电子显微镜上对材料进行全面的成分和结构分析,其中包括适用于先进应用的、行业领先的创新型探测器。
阅读更多
技术支持表单
如需技术服务、采购耗材、服务访问、合同和培训,请联系我们的 X 射线衍射、3D X 射线显微镜和元素分析仪客户支持中心。
或者创建服务请求